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パワー化合物半导体日本の视点
1。ST Microelectronics completes acquisition of Norstel AB, a SiC wafer manufacturer, ST Microelectronics, 2019/12/2: https://www.st.com/content/st_com/ja/about/ media-center/press-item.html/c2930.html 2.ROHM集团Sicrystal和St Microelectronics同意提供碳化硅（SIC）Wafers多年来，ST Microelectronics，2020/1/15：https：//newsroom.st.com/ja/ja/ja/media-ia-center/media-center/press-center/press-item/press-item.html/c2936.html，3。3.cree |。ST Microelectronics在意大利建立了新的集成SIC WAFER工厂，ST Microelectronics，2022/10/5：https：//newsroom.st.com/ja/ja/media-center/media-center/press-item.htm.html/ c3124.html 5。Stmicro在意大利建立新的SIC WAFER工厂，在欧洲首次，Nikkei Crosstech，2022/10/18：https：//xtps：//xtech.nikkei.com/atcl/news/news/news/news/news/13938/13938/ 6.Infineon和Cree同意长期供应Sic Wafers，Infineon，2018/3/16：https：//www.infineon.com/cmms/cmms/jp/jp/jp/jp/about-infineon/press/press/press/press/press/press/press/press-releases/2018/2018/Wolfspeed builds a new large-scale SiC factory in Germany, production begins in 2017, Nikkei Crosstech, 2023/2/28: https://xtech.nikkei.com/atcl/nxt/news/18/14642/ 8.Infineon收购了硅碳化物专家Siltechtra，Infineon，2018/12/7：https：//www.infineon.com/cms/cms/cms/jp/jp/about-infineon/press/press/press/press/press-releases/2018/2018/2018/Infineon通过GT Advanced Technologies，Infineon，2020/11/9：https：//wwwww.infineon.com/cms/cms/cms/jp/jp/about-infineon/ press/press/press/press/press/2020/infxx20202011-2011-2011-2011-014.html 10。有关电力半导体的SIC外延晶片：与Infineon Technologies签署的销售和联合开发协议，Showa Denko，2021年5月6日：https：//wwwwww.resonac.com/jp/
三模冗余可靠性分析
本文研究了三重模块冗余 (TMR) 实现对系统可靠性的影响。为此，对具有 RISC-V 架构的微处理器进行了模拟，分别采用了 TMR 实现和未采用 TMR 实现。在模拟中，注入了单事件瞬变 (SET) 和多事件瞬变 (MET)。此外，还模拟了采用 TMR 实现的晶体管故障。TMR 应用于处理器的 Multi/Div 块，故障将注入这些三重块的输入端。将使用注入故障数与传播故障数之比来比较采用和未采用 TMR 的系统的性能。当系统仅注入 SET 时，不采用 TMR 的系统的比例从 0.058 到 0.389，具体取决于发生 SET 的概率，而采用 TMR 的系统则根本不传播任何故障。如果注入 MET，则不带 TMR 的系统性能会更好，比率在 0.069 和 0.291 之间，而带 TMR 的系统比率在 0 和 0.036 之间。TMR 实施可显著降低错误传播的概率，但如果多事件瞬变击中多条类似的线路，它仍可能失败。为了解决这个问题，应该实施其他形式的冗余。
激光束的空间和多模纠缠
[1] M. Lassen, V. Delaubert, J. Janousek, K. Wagner, H.-A. Bachor、PK Lam、N. Treps、P. Buchhave、C. Fabre、CC Harb、Phys.冻结。莱特。 98,083602 (2007)
频率梳源的计量：评估从多模到锁模操作的相干性
摘要：自本世纪初以来，频率梳发生器已经重塑了频率计量学和相关领域。自首次实现以来的二十多年里，已经展示了几种在任何光谱区域生成频率梳的其他方法，每种方法都有其独特的特性。这种趋势引发了对定量评估新梳实现与理想梳的接近程度的需求，这一特性在本文中被称为梳状性。我们将简要回顾新型频率梳源这一非常活跃的领域，并针对具体应用描述最近开发的技术，用于定量评估新旧频率梳的关键参数。最后，我们将尝试勾勒出这个新兴研究领域的未来发展方向。
研究 OnAir 500 模
OnAir 500 Modulo 的仪表模块有两个 30-LED 立体声条形仪表，每个仪表的中央都有一个相位相关指示器。右侧是两个数字计时器，可以通过相邻的按钮或选定的推子通道进行控制，仪表左侧是 CUE 扬声器及其控件。由于 OnAir 500 Modulo 具有可选的一级电源冗余功能，因此仪表桥前面板上的指示器会发出电源正常运行或其中一个电源故障的信号。此外，控制台还可以通过任何外部 24 V DC 电源（例如电池）进行操作。仪表模块的尺寸允许安装到 19 英寸机架中。
道路上有模因和低估
ix。TECHNICAL CHALLENGES AND SOLUTIONS........................................................42 A. Scalability and Integration..............................................................................................42 1.Technical Architecture.....................................................................................................42 2.Scaling Solutions............................................................................................................. 43 3.Resource Management....................................................................................................43 4.性能优化......................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................... 44 5。System Reliability............................................................................................................ 44