开发数学词汇 - 更多/更少,大小,识别环境中的形状和颜色,并通过押韵进行计数。识别环境声音,例如狗吠叫,汽车喇叭或高压锅的哨声。通过串珠和鞋带活动磨练精细的运动技能
说明:1. 开始制作甜椒欧芹米饭食谱,在高压锅中,用中火加热油,加入大蒜炒 30 秒。2. 加入洋葱,继续炒至变透明。这需要大约 2-3 分钟。3. 除此之外,加入盐和干迷迭香、浸泡并沥干的米饭和 2 杯水,然后关上高压锅。4. 高压煮 2 声后关火。5. 让压力自然释放。释放压力后,打开锅,用叉子将米饭松散,然后将米饭铺在盘子中,让米粒分离并冷却至室温。6. 接下来,在煎锅中加热油,加入红辣椒片和三种彩色辣椒——红色、绿色和黄色。7. 撒上盐。 8. 炒 4-5 分钟,直到甜椒快熟,但仍然有嚼劲。 9. 加入混合香草,搅拌均匀。关火。 10. 最后,将这些煎好的甜椒和切碎的欧芹一起加入米饭中,用叉子和勺子搅拌均匀。 11. 盛入盘中即可食用。
婴儿死亡率评估 (IME) 6 HTOL(高温工作寿命)测试 6 85/85(温度-湿度-偏差)测试(THB)7 压力罐测试 7 温度循环测试 7 高温存储测试 7 可靠性数据 8 表 3 Maxim 高频双极工艺的婴儿死亡率评估(在 150°C Tj 下)8 表 4。高温工作寿命测试 – CP1 工艺在 150°C Tj 下 10 表 5。高温工作寿命测试 – CB2 工艺在 150°C Tj 10 表 6。高温运行寿命测试 – CB3 工艺在 150°C Tj 11 表 7。高温运行寿命测试 – GST1 工艺在 150°C Tj 11 表 8。高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj 11 表 8。高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj(续)12 表 9。高温运行寿命测试 – GST3 工艺在 150°C Tj 13 表 10。高温工作寿命测试 – GST4 工艺在 150°C Tj 14 表 11。高温工作寿命测试 – MB1 工艺在 150°C Tj 15 表 12。85/85 测试(高频双极和 BiCMOS 工艺) 16 表 13。高压锅测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 18 表 14。温度循环测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 21 表 15。高温存储测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 25
婴儿死亡率评估 (IME) 6 HTOL (高温工作寿命) 测试 6 85/85 (温度-湿度-偏差) 测试 (THB) 7 压力罐测试 7 温度循环测试 7 高温存储测试 7 可靠性数据 8 表 3 Maxim 高频双极工艺的婴儿死亡率评估 (150°C Tj) 8 表 4. 高温工作寿命测试 – CP1 工艺,150°C Tj 10 表 5. 高温工作寿命测试 – CB2 工艺,150°C Tj 10 表6. 高温运行寿命测试 – CB3 工艺在 150°C Tj 11 表 7. 高温运行寿命测试 – GST1 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj(续)12 表 9. 高温运行寿命测试 – GST3 工艺在 150°C Tj 13 表 10. 高温运行寿命测试 – GST4 工艺在 150°C Tj 14 表 11. 高温运行寿命测试 – MB1 工艺在150 ° C Tj 15 表 12. 85/85 测试(高频双极和 BiCMOS 工艺) 16 表 13. 高压锅测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 18 表 14. 温度循环测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 21 表 15. 高温存储测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 25
婴儿死亡率评估 (IME) 6 HTOL (高温工作寿命) 测试 6 85/85 (温度-湿度-偏差) 测试 (THB) 7 压力罐测试 7 温度循环测试 7 高温存储测试 7 可靠性数据 8 表 3 Maxim 高频双极工艺的婴儿死亡率评估 (150°C Tj) 8 表 4. 高温工作寿命测试 – CP1 工艺,150°C Tj 10 表 5. 高温工作寿命测试 – CB2 工艺,150°C Tj 10 表6. 高温运行寿命测试 – CB3 工艺在 150°C Tj 11 表 7. 高温运行寿命测试 – GST1 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj(续)12 表 9. 高温运行寿命测试 – GST3 工艺在 150°C Tj 13 表 10. 高温运行寿命测试 – GST4 工艺在 150°C Tj 14 表 11. 高温运行寿命测试 – MB1 工艺在150 ° C Tj 15 表 12. 85/85 测试(高频双极和 BiCMOS 工艺) 16 表 13. 高压锅测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 18 表 14. 温度循环测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 21 表 15. 高温存储测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 25
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