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数字逻辑测试和可测试性 - DTIC
电子硬件容易出现制造时引入的缺陷和现场发生的故障。由于数字逻辑电路的复杂性，它们很难测试。本报告概述了数字逻辑测试。它提供了对文献的访问，并统一了该领域发展起来的术语和概念。它讨论了数字逻辑故障的类型和原因。本报告介绍了逻辑和
CTI El I 11~ I l~IIUN1 - DTIC
为增加一般知识并促进讨论，国家战略研究所通过国防大学出版社出版了《军事论文》。大学和研究所主办的研讨会论文集：与美国国家安全有关的书籍，特别是联合、联合或联盟战争、维和行动和国家战略问题：以及各种旨在传播当代评论和提供当前政策替代方案的简短作品。虽然出版社偶尔会出版非印刷版的国防经典、历史著作和其他特别及时或杰出的国家安全著作，
国际可靠性入门和... - DTIC
估计每次收集这些信息的公共报告负担超过 1 小时，包括审查说明、搜索现有数据源、收集和维护所需数据以及完成和审查信息收集的时间。请发送有关此负担估计或此信息收集的任何其他方面的评论。包括减轻此负担的建议，发送至 Woshington 总部服务部。信息运营和报告理事会，1215 Jefferson Davis Highwoy。1204 套房。弗吉尼亚州阿灵顿 22202-4302。并寄至管理办公室预算、文书工作减少项目 10704-0188），华盛顿特区 20503。1.仅供机构使用（留空）2.报告日期 1997 年 3 月
可测试性设计评级系统 - DTIC
TDRS 可测试性手册是一套两卷的书。第一卷包含此 TDRS 执行摘要、TDRS 简介以及有关如何改进设计可测试性方面的建议。第一卷第 1 节是第一卷的简介，并包含第一卷中每个部分的描述（第 1-8 页和第 1-9 页）。第一卷在主要部分之前包含首字母缩略词和缩写列表。它还在主要部分之后包含参考书目和词汇表。
超导体的军事系统应用-DTIC
为了实现这一潜力，需要一个剧烈的研究，发展和演示计划。这样的计划应包括：基础研究中的扩大努力，包括理论；高温薄膜材料和高温复合线和导体的密集开发；除了追求两种关键支持技术：低温和高强度结构材料以及基于超导体材料的许多工程测试模型的开发，以作为早期对高温超导体早期转移到军事系统的基础。
* 高性能降落伞的设计和测试 - DTIC
自 1988 年 5 月以来，Carl 一直担任 Sandia 空气动力学部门的经理。除了降落伞之外。Carl 管理再入系统、导弹、炸弹、炮弹和火箭的空气动力学和热分析项目和研究计划。他负责监督所有美国核潜艇降落伞系统的设计、开发和储备维护的技术方面。Carl 负责计算空气动力学和流体动力学以及空气动力学和高超音速风洞的研究和技术开发计划。他负责托诺帕和考伊试验场的靶场安全、分布式计算机组织以及他在空气动力学方面撰写了大约 75 篇出版物。
工程师计算机编程基础知识。 - DTIC
本书的组织结构如下：第 1 章阐述了程序构建的四个原则。第 2 章讨论了计算机程序的被动部分：数据。第 3 章描述了每个程序的三个部分。第 4 章相当长，介绍了构造（来自控制结构），并附有练习来测试您的学习效果。第 5 章描述了让程序运行的过程，第 6 章提供了一个检查表，以帮助确保您的程序在运行之前（和之后）处于最佳状态。第 7 章是一堂简短的课程，教你如何在程序运行不正确时纠正它（是的，即使前面几章中有很多“好东西”，但仍然会出错）。第 8 章包含对几种编程语言的简要回顾，并揭示了我对某些语言的不为人知的偏见。第 9 章至第 141 章分别针对一种特定的编程语言；这里没有提供足够的细节来充分利用任何语言，但足以让你成功入门。遵循以下列表
AD -A250 435 -DTIC
Accomplishments: 1951 1 Accomplishments: 1952 9 Accomplishments: 1953 15 Accomplishments: 1954 21 Accomplishments: 1955 25 Accomplishments: 1956 29 Accomplishments: 1957 35 Accomplishments: 1958 39 Accomplishments: 1959 45 Accomplishments: 1960 49 Accomplishments: 1961 53 Accomplishments: 1962 57 Accomplishments: 1963 63 Accomplishments: 1964 67成就：1965 71成就：1966 77成就：1967 83成就：1968 91成就：1969 99 99成就：1970 105成就：1971 I11成就：1972年成就：1972 121成就：1973 127成就：1974 131成就：1975 137成就：1975 137成就：1977 143成就：1977 143：1977 143：143 143：143：143 143：143 143：143 143：143 143：143 143：143成就： 1979 155成就：1980 157成就：1981 161成就：1982 165成就：1983 169成就：1984年成就：1984 173成就：1985 177成就：1986年成就：1986 181成就：1987年成就：1987 185成就：1988年成就：1988 189成就：1989 193 193 193年成就：1990 199年成就：1990年成就：1990年成就：1990年成就：1991年成就：1991年成就：1991年成就：
功率控制器的可靠性预测 - DTIC
[ 直流控制器是一种微电子混合设备。采用了 MIL-HDBK-217B 通知 2《电子设备可靠性预测》第 2.1.7 节中的混合故障率预测模型和程序。这种预测方法需要识别单个电子零件和基板，以及每个零件的单独电应力数据。热应力是由混合封装温度和零件功率耗散引起的。