在回收工厂生产 • 原材料 • 相对价值低 • 需要额外加工才能用于电池 • 包含所有阴极和阳极材料 • 包含污染物和水 • 杂质含量高 • 杂质:>1000 ppm(几乎是矿石级) • 通常运往海外加工 • 可供其他行业使用
•相同的规格;释放和稳定性时相似的纯度/杂质特征•相同的化学合成途径; 1.2倍较大的量•类似的原材料和试剂•类似的分析方法•DL过程绩效资格成功完成•经过良好的设施GMP并具有良好的代名词•满足DS Manufacturing的传入要求
亚硝胺药物相关杂质 (NDSRI) 是一类 N -亚硝胺 (亚硝胺) 杂质,其结构与药品中的活性药物成分 (API) 相似。(请参阅 FDA 关于人用药物中亚硝胺杂质的行业控制指南(2024 年 9 月)、亚硝胺药物相关杂质 (NDSRI) 的推荐可接受摄入量限值(2023 年 8 月)、CDER 亚硝胺杂质可接受摄入量限值(2024 年 10 月))。FDA 正在告知含利托那韦产品的制造商和申请人,包括那些正在等待 FDA 审批的申请的制造商和申请人,FDA 对此类药品中可能存在的亚硝胺杂质的担忧。亚硝胺杂质含有亚硝基,因此它们被归类为 M7(R2) DNA 反应性杂质指南中所述的高致癌性“关注群体”。(请参阅 FDA 行业指南 M7(R2)《评估和控制药品中的 DNA 反应性(致突变性)杂质以限制潜在致癌风险》(2023 年 7 月))。
由于价格上涨和LI [Ni X Mn Y Co Z] O 2(X + Y + Z = 1)的资源供应链有限,(NMC)阴极材料,锂离子电池(LIB)回收技术已成为解决价格问题的最佳解决方案。主要是,常规的水透明过程已应用于LIB回收字段,以识别其价值。水均铝法的一个显着优势是它是启用Hydro-cathode®方法的桥梁。然而,必须在生产前体阴极材料的生产中使用杂质(掺杂剂)效果并行研究。不足的选择性杂质去除技术导致最终的NMC阴极活性材料中意外的电化学特性,这可能会被几种不同的杂质掺杂。因此,如果我们要将水电 - 情感®方法视为NMC阴极材料的主要回收过程,则仔细检查掺杂剂元件(无机和有机物)至关重要。
calcarb®软毛毡是由碳化的人造丝前体制成的绝缘材料,设计用于高温感应和电阻炉,可在惰性气体或真空气氛中运行。石墨级是由于其低杂质水平低,并且由于较高的加工温度至最低2,000°C而导致的较高纯度环境的最佳选择。
Casimir效应[1,2]是由于量子真空波动引起的中性物体的相互作用。对高级材料之间Casimir相互作用的研究是一个新的和有希望的研究领域[3]。一方面,这些材料的异常电子特性会对Casimir力产生有趣的影响。另一方面,Casimir实验的提高质量使它们成为探索材料本身的有用工具。dirac材料(在足够低的能量下遵守二级式dirac-type方程)为我们提供了一个量子场理论与凝结物质之间相互作用的示例。石墨烯是该家族的重要代表[4,5]。处理狄拉克材料是很自然的,可以通过清理的极化张量来描述与电磁场的相互作用,并使用此张量来计算Casimir相互作用。在石墨烯的情况下,在[6]和[7]中使用了这种方法,分别在零和非零温度下使用。值得注意的是,石墨烯的Casimir相互作用的极化张量方法是实验中唯一证实的方法[8-11]。所有真实材料都包含杂质。特定形式的杂质可能会有所不同。杂质是指破坏原始材料清洁度的一般形式。在评论[12-15]中可以找到石墨烯样材料中杂质和缺陷的分类。石墨烯的二维性质减少了可能的缺陷和杂质类型的数量。因此,我们不会尝试关键是,它在居住在石墨烯表面外面的ADATOM或替代杂质在能量上有利。可能会被充电[16-18],磁[15],同位素[19,20],拓扑结构(例如五角大州和七肠)[13,21],或者是缺陷和生长诱发的缺陷等缺陷[22]和群集缺陷[12]。有意的杂质通常称为掺杂剂,而杂质本身可以是故意的,也是无意的(意外)。掺杂用于改变材料的物理或化学特性。石墨烯中的杂质[23,24]可能会将狄拉克附近的线性分散体转换为二次的杂质,这表示杂质引起的质量间隙的外观。描述杂质及其对材料物理特性的影响有不同的方法。常见是具有射击或远程电位[13]和散射方法[25,26]的紧密结合模型。使用石墨烯中的各种杂质类型,我们需要一个良好的模型,该模型可以捕获杂质的通用特性,同时非常简单地用于计算偏振张量。一种成功描述杂质的方法在于将准粒子的传播器添加到描述杂质散射率的参数γ。换句话说,γ是fermion自能的虚构部分。在[27 - 31]中的外部磁场存在大多数情况下,这种描述已应用于石墨烯。我们将自己限制在零温度和消失的化学潜力的情况下。[31]的计算与石墨烯中巨型法拉第旋转的测量[32]非常吻合。原则上γ可以取决于频率,尽管保持频率似乎是一个良好的近似值。在这项工作中,我们忽略了杂质的另一个作用,这是它们产生非零化学势µ的能力。在[10,11]中考虑了石墨烯表面上原子(主要是钠)的一种特殊形式的杂质(主要是钠)及其对Casimir力的影响。根据这些论文,这种杂质会导致石墨烯的质量间隙和非零化学潜力,而不是通过散射速率γ描述的杂质散射的出现。本文的主要目标是研究杂质散射速率γ对石墨烯与理想金属之间Casimir相互作用以及两个石墨烯片之间的影响。这是一个简化的设置。
能带结构各点之间的散射矢量。在这方面,傅里叶变换的 QPI 图提供了拓扑绝缘体存在的首批实验证据之一,[4]因为它揭示了背向散射矢量处强度的“缺失”,正如理论所预测的那样。从理论的角度来看,QPI 图的计算主要基于模型方法,例如在拓扑绝缘体表面,[5]其中表面能带结构可以用简单的模型哈密顿量来近似。然而,一般而言,基于密度泛函的方法对于表面电子结构的实际描述是必需的,特别是杂质势,其中杂质周围的电荷弛豫在正确描述散射相移中起着重要作用。密度泛函计算的一个困难是缺陷引起的密度振荡范围非常大,可以达到几十甚至几百纳米,因此超晶胞方法实际上无法达到这个极限。这些挑战只能通过从头算格林函数嵌入方法来解决,比如 Korringa-Kohn-Rostoker(KKR)方法。作为一个应用的例子,我们参考了 Lounis 等人 [6] 对 Cu(111) 和 Cu(001) 表面上的 QPI 的计算,这是由于表面下埋藏着一个孤立杂质。这些结果表明,利用格林函数技术可以在相当大的表面积上对 QPI 图进行从头算计算。然而,对于傅里叶变换的 QPI 图,直接用格林函数卷积来表示结果是可行的[7],避免了计算大表面积中实空间图的中间步骤。在本文中,我们将探讨这个问题,并给出它在拓扑绝缘体领域的应用。在第 2 节中,我们概述了 KKR 方法中实空间和傅里叶变换 QPI 映射的形式。此外,我们讨论了多杂质实际情况的傅里叶变换 QPI,并认为多杂质问题可以用单杂质结果很好地近似。我们还讨论了扩展的联合态密度方法 (exJDOS)。在第 3 节中,我们将我们的形式应用于具有表面杂质的拓扑绝缘体 Bi 2 Te 3。这在 JuKKR 代码包中实现。[8] 最后,我们在第 4 节中进行了总结。