这项工作是与 Airbus Helicopters Deutschland GmbH (AHD) 和 Instituto Superior de Engenharia de Lisboa (ISEL) 合作编写的,作为最终大师的工作,包括开发直升机的登机梯。这是中小型直升机外部设备开发初始阶段的一种方法,着眼于未来的航空认证。开发过程会经历头脑风暴和建模等多个阶段,直到获得具有吸引力和功能特性的模型。获得模型后,开发了一个额外的步骤来方便行动不便的用户登机。随后,根据行业规范,对组件进行了静态研究和结构尺寸标注。在这项工作结束时,开发了一个登机台阶,其中包括一个额外的可扩展台阶。提出了三种可行的模型,两种为金属合金,一种为复合材料,作为公司未来发展的基础。
2024 年 3 月 8 日 — 根据参考文献 (a) 至 (e) 获得进入关岛海军基地 (NBG) 历史悠久的西班牙台阶的指挥权。主要职责是……
摘要:纳米台阶作为经典的纳米几何参考材料,在半导体工业中用于校准测量,因此控制纳米台阶的高度是保证测量准确的关键。为此,本研究采用原子层沉积(ALD)结合湿法刻蚀制备了形貌良好的高度为1,2,3和4nm的纳米台阶。利用三维保形ALD工艺有效控制制备的纳米台阶的粗糙度。此外,使用基于仿真的分析研究了表面粗糙度与高度之间的关系。本质上,粗糙度控制是制备临界尺寸小于5nm的纳米台阶的关键。在本研究中,通过ALD和湿法刻蚀相结合成功实现的纳米台阶的最小高度为1nm。此外,基于1nm纳米台阶样品,分析了标准材料质量保证的前提条件和制备方法的影响因素。最后,利用制备的样品进行时间依赖性实验,验证了纳米台阶作为参考材料的最佳稳定性。这项研究对制备高度在5纳米以内的纳米几何参考材料具有指导意义,并且该方法可以方便地用于制备晶片尺寸台阶高度参考材料,从而实现其在集成电路生产线中大规模工业化在线校准应用。
补充图 2。散点图显示零偏压下的微分电导 (G 0) 与 a、第一个台阶的电流台阶高度 ∆ I 和 b、发生台阶时 ∆ I 与电压的比率 (∆ I / V s) 之间的正相关。c,散点图显示 G 0 与台阶发生之前的电流与电压的比率 (I s /V s) 之间的正相关。I s 记录在台阶立板的底部。G 0 < 10 − 11 S 的台阶显示在 10 − 11 S。d,散点图显示 ∆ I 与开放周长的关系,用于 EBL 青色和橙色趋势。当绘制这些组与开放周长的关系时,它们的对应关系表明,在这些最大的 EBL 设备中,蚀刻边缘的长度决定了行为。当 EBL 面积进一步减小时,设备面积再次成为 ∆ I 的最佳预测因子。在所有图中,符号与图 3a 中的符号相匹配:它们的颜色对应不同的批次,圆圈(三角形)代表最小正(负)电压下的步骤,较大的数据点对应较高质量的 StC。
摘要。在 SiC/Si/SiC 夹层结构中,使用 1550°C 熔化的 Si 研究了 4°off 4H-SiC 表面的重建。尽管系统地获得了与液态 Si 接触的整个区域的宏观阶梯形貌,但使用原始 4H-SiC 晶片时发现台阶呈波浪形。在处理过的表面上进行表面重建时,台阶的规则性和直线性得到显著改善:在重新抛光的表面上,在某些情况下发现台阶是规则和笔直的,而在原生外延层上则始终观察到这种情况。经过 2 小时的重建过程后,获得了最佳的台阶规则性,平均宽度为 ̴ 3-5 µm。将处理面积从 1.44 cm 2 增加到 4 cm 2 不会影响结果,这表明该工艺具有良好的可扩展性。
A. Alpas^ 和 C. N. Reid^(书面讨论)—对通过开口套筒工艺冷扩孔的表面进行检查,发现螺旋套筒外端存在台阶。研究了该台阶的角度位置对冷扩 6000 系列铝合金(英国名称 HE9)疲劳寿命的影响,所得结果支持本文作者报告的结论。在缩径截面(100 x 19 x 1.67 毫米)上钻有一个直径为 5 毫米的孔的样品,在 520°C 下进行 40 分钟的固溶处理,淬火,然后在 170°C 下时效 22 小时,然后进行冷扩。在冷膨胀过程中,台阶的位置受到控制,并使用了两个方向:(1)台阶的角度位置与纵轴重合的样品(指定为“12 点钟”位置)和(2)台阶的角度位置在横向的样品(“3 点钟”位置)。膨胀量保持在 3% 到 3.5% 之间。疲劳试验在恒定应力幅度 a^ = 48 MPa 和应力比 R = 0.05 下进行。表 4 总结了在每个台阶位置冷膨胀的样品的疲劳寿命。该表还包括冷膨胀后进行退火处理(170°C,2 小时)的样品的平均寿命。选择这种方式是为了在不过度老化的情况下显著释放应力。使用“学生 t 检验”的统计分析表明,冷加工样品的两个取向的平均寿命之间没有显著差异(t = 0.68)。同样,应力消除试样的两个取向之间也没有显著差异(t = 0.65)。我们得出结论,台阶在试件中构成了一个微不足道的缺口。这得到了以下观察结果的支持:在某些 CX3 和 CXSR3 样品中,疲劳裂纹甚至没有与台阶相交。此外,第一个疲劳裂纹没有表现出在孔的“台阶”侧而不是在相反侧形成的偏好——这发生在五分之二的 CX3 样品和五分之三的 CXSR3 试件中。疲劳裂纹总是在孔与平板试件的一个表面的交汇处形核。虽然我们的M. W. Ozelton 和 T. G. Coyle(作者结束语)—作者感谢 A. Alpas 和 C. N. Reid 的评论,他们支持我们关于管子位置对开口套管冷加工铝合金疲劳寿命影响的观察。
摘要:绊倒和滑倒是导致在楼梯上摔倒的重要因果因素,尤其是对老年人而言。当台阶之间的间隙较小且变化不定时,脚趾或脚跟卡在台阶边缘而导致绊倒的风险会增加。如果脚与台阶接触的面积比例减少且台阶之间的间隙变化不定,则滑倒的风险会增加。为了评估跌倒风险,这些测量通常在步态实验室中使用运动捕捉光电系统进行。这项工作的目的是开发一种配备传感器的新型智能鞋,用于测量真实家庭中楼梯上的脚部位置和脚部间隙。为了验证智能鞋作为评估楼梯跌倒风险的工具,使用相关性和布兰德-奥特曼一致性技术,将 25 名老年人的基于传感器的测量结果与在实验室实验楼梯上进行的脚部位置和间隙测量结果进行了比较。结果表明,传感器和运动分析之间的脚部位置(r = 0.878,p < 0.000)和脚部间隙(r = 0.967,p < 0.000)具有良好的一致性和很强的正线性相关性,这有望将当前原型推进为测量现实生活中楼梯跌倒风险的工具。