补充图 2。散点图显示零偏压下的微分电导 (G 0) 与 a、第一个台阶的电流台阶高度 ∆ I 和 b、发生台阶时 ∆ I 与电压的比率 (∆ I / V s) 之间的正相关。c,散点图显示 G 0 与台阶发生之前的电流与电压的比率 (I s /V s) 之间的正相关。I s 记录在台阶立板的底部。G 0 < 10 − 11 S 的台阶显示在 10 − 11 S。d,散点图显示 ∆ I 与开放周长的关系,用于 EBL 青色和橙色趋势。当绘制这些组与开放周长的关系时,它们的对应关系表明,在这些最大的 EBL 设备中,蚀刻边缘的长度决定了行为。当 EBL 面积进一步减小时,设备面积再次成为 ∆ I 的最佳预测因子。在所有图中,符号与图 3a 中的符号相匹配:它们的颜色对应不同的批次,圆圈(三角形)代表最小正(负)电压下的步骤,较大的数据点对应较高质量的 StC。