随着高能高亮度对撞机 [1] 的出现,尤其是 1994 年 6 月 LHC 建造计划的批准 [2],显然探测器上的电子系统需要具有抗辐射能力,才能在所需的 10 年实验寿命内生存 [3]。航天工业 [4] 所采用的方法是依靠工业合格的抗辐射商用现货元器件 (COTS) 或合格的消费电子元器件,这显然不适合高能物理 (HEP) 项目,因为高能物理项目受到的辐射剂量远远超过太空中的辐射剂量,而元器件数量众多意味着系统成本高昂。毋庸置疑,实施实验所需的大多数功能在消费市场上是找不到的,尽管数据通信系统肯定不是这种情况,尽管工业界无法提供所需的抗辐射元器件,但已经领先于 HEP 的需求 [5, 6]。
离子束通常用于测试微电子器件中的单粒子效应 (SEE) [5],特别是用于空间和加速器应用 [6-9],其中电子设备需要在高辐射场中高可靠性地工作。全世界的大多数测试都是在较低能量下进行的,通常为每核子 10 至 100 MeV。CERN 的 SPS 加速器是一个独特的设施,因为它能够使用超高能量范围(每核子数百 GeV)。利用这些能量的主要原因是,测试工程师可以研究相对较高的线性能量转移 (LET) 与同时具有高穿透力的光束相结合的效果。这一事实允许将多个电路板一个接一个地堆叠并以中等程度的光束衰减进行并行测试 [10]。此外,离子在组件的整个敏感体积内保持恒定的 LET,这更易于 SEE 的数据分析。此外,无需取下微芯片的盖子和外壳,这些操作可能特别困难
退款政策:未能亲自向研究所报告的候选人将不会退款。如果任何候选人都想在向研究所进行物理报告后取消其分配的席位,则他/她可以通过部门的各个部门的负责人发送请求取消的请求。在这种情况下,候选人应提供银行帐户详细信息(帐户持有人的姓名,帐号,银行分支机构的名称,IFSC代码)以及证明(已取消支票的副本或银行邮寄的首页的副本)。帐户必须以候选人的名义。此类候选人有资格获得Rs的退款。仅3,000/ - (仅三千)。退款金额仅在收到Josaa/csab的金额后才将其转移到候选人的银行帐户。从Josaa/csab获得金额的暂定时间表是2025年2月/3月。
全球 ATM 运行概念是由国际民航组织制定的,目的是在适应日益增长的交通量的同时,实现安全、可持续和环保的空中交通运行。ENRI 公布了其长期研究愿景,并一直致力于研究,以及为实现全球 ATM 运行概念 (GATMOC) 而在全球范围内开发和传播成果。长期研究愿景需要根据社会环境的变化和新开发技术的引入进行审查。因此,ENRI 定期审查其长期研究愿景,考虑与 CARATS * 和 GANP ** 等其他空中交通系统长期愿景的协调,并于 2019 年发布了最新版本。未来将实现基于轨迹的运行 (TBO),其中飞机轨迹会提前调整和确定,飞机将在指定时间沿着轨迹飞行。灵活的空中交通管理对于应对各种类型、不同性能和用途的飞机的预期增长至关重要。新的研究愿景将我们未来几十年的研究主题解释为路线图,其中主题大致分为四个研究领域:“通过提高运营安全性和可靠性有效利用空域”、“通过空域运营效率有效利用空域”、“优化机场运营”和“改善空中交通系统的基础技术”,重点是提高研究潜力并持续长期为社会做出贡献。ENRI 将根据这一长期愿景开展其研究和开发活动。
全球 ATM 运行概念是由国际民航组织制定的,旨在实现安全、可持续和环保的空中交通运行,同时适应不断增加的交通量。ENRI 公布了其长期研究愿景,并一直致力于研究,以及在全球范围内开发和传播成果,以实现全球 ATM 运行概念 (GATMOC)。长期研究愿景需要根据社会环境的变化和新开发技术的引入进行审查。因此,ENRI 定期审查其长期研究愿景,考虑与 CARATS * 和 GANP ** 等其他空中交通系统长期愿景的协调,并于 2019 年发布了最新版本。未来将实现基于轨迹的运行 (TBO),其中飞机轨迹会提前调整和确定,飞机将在指定时间沿轨迹飞行。灵活的空中交通管理对于应对具有不同性能和用途的各种类型飞机的预期增加至关重要。新的研究愿景将未来几十年的研究课题以路线图的形式阐述,其中研究课题大致分为四个研究领域:“通过提高运行安全性和可靠性有效利用空域”、“通过空域运行效率有效利用空域”、“优化机场运营”和“改善空中交通系统的基础技术”,重点是提高研究潜力并持续长期为社会做出贡献。ENRI 将根据这一长期愿景开展研究和开发活动。
p(活着)= | ⟨活着| ψ(t)⟩| 2 = | a e(t)| 2,p(dead)= | ⟨活着| ψ(t)⟩| 2 = | a g(t)| 2。(1.4)
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09:30 ~ 09:45 Germar Hoffmann Sunao Shimizu Yu-Wei Chen Ravish Kumar Jain YingLin Li Yu Hung Lin JaYil Lee Yan-Ru Chen Chan-Ching Lien Saikat Karmakar Po-Feng Wu Amar Aryan Chen-Kang Huang Hsin-Yeh Wu Chin-Chia Wu Anli Tsai
Figure 12.1540-MeV 209Bi ion irradiation 1.7 × 10 11 ions/cm 2 TEM images of AlGaN/GaN HEMT devices: (a) Gate region cross-section; (b) The orbital image of the heterojunction region shown in Figure (a); (c) The image shown in Figure (a) has a depth of approximately 500 nm; (d) Traces formed at the drain; (e) As shown in Figure (d), the trajectory appears at a depth of ap- proximately 500 nm [48] 图 12.1540-MeV 209Bi 离子辐照 1.7 × 10 11 ions/cm 2 的 AlGaN/GaN HEMT 器件的 TEM 图像: (a) 栅极区域截面; (b) 图 (a) 所示异质结区域轨道图 像; (c) 图 (a) 所示深度约 500 nm 图像; (d) 在漏极形成的痕迹; (e) 如图 (d) 所示,轨迹出现在深度约 500 nm 处 [48]