卫星和其他航天器中使用的电子器件暴露在宇宙辐射中。为了确保这些器件的可靠性,应仔细研究辐射的影响。评估电子设备辐射可靠性的主要方法是测量其单粒子效应 (SEE) 截面与离子束电离功率的关系。之前已经发表了许多关于太空应用的 SEE 结果 [1-4]。本文讨论的研究旨在确定电子设备对单粒子闩锁 (SEL) 和单粒子翻转 (SEU) 的灵敏度。对十种不同类型的 CMOS 器件进行了 SEE 测量,包括 ADC、DAC、模拟开关、MOSFET 驱动器、数字合成器、延迟缓冲器和晶体振荡器。
粘合用品 矫正器支持产品 ................................................................................................................101 Reliance 粘合产品 ......................................................................................................101-107 混合头和刷子 ................................................................................................................105 混合垫、凹槽、Dappen 盘 ................................................................................................107 唾液引流器/口腔吸引器 ......................................................................................................108 牵开器 ................................................................................................................................109 SmartBond® 湿地粘合胶 .............................................................................................110 固化灯 (LEDEX™) .............................................................................................................111 Mini-Mold™ 套件和咬合缓冲器 .............................................................................................112 口外和精加工纤维增强复合材料、舌侧固位 .............................................................................................113 Neosmile™ 牙齿定位器 .............................................................................................................114 前伸面罩 .............................................................................................................................115 面弓和唇垫...........................................................................................116 颈垫、耳机
卫星和其他航天器中使用的电子器件暴露在宇宙辐射中。为了确保这些器件的可靠性,应仔细研究辐射的影响。评估电子设备辐射可靠性的主要方法是测量其单粒子效应 (SEE) 截面与离子束电离功率的关系。之前已经发表了许多关于太空应用的 SEE 结果 [1-4]。本文讨论的研究旨在确定电子设备对单粒子闩锁 (SEL) 和单粒子翻转 (SEU) 的灵敏度。对十种不同类型的 CMOS 器件进行了 SEE 测量,包括 ADC、DAC、模拟开关、MOSFET 驱动器、数字合成器、延迟缓冲器和晶体振荡器。
卫星和其他航天器中使用的电子设备暴露在宇宙辐射中。为了确保这些设备的可靠性,应仔细研究辐射的影响。评估电子设备辐射可靠性的主要方法是测量其单粒子效应 (SEE) 截面与离子束电离功率的关系。之前已经发表了许多用于太空应用的 SEE 结果 [1-4]。本文讨论的研究旨在确定电子设备对单粒子闩锁 (SEL) 和单粒子翻转 (SEU) 的灵敏度。对十种不同类型的 CMOS 设备进行了 SEE 测量,包括 ADC、DAC、模拟开关、MOSFET 驱动器、数字合成器、延迟缓冲器和晶体振荡器。
摘要:本文介绍了一种低电流消耗的全 MOSFET 直流电压限制器。在所提出的电压参考结构中,为了降低功耗,晶体管偏置在亚阈值区域。为了在电压参考电路中产生与绝对温度互补 (CTAT) 电压,仅使用 PMOS 晶体管,其漏极、栅极和源极端子连接在一起并充当二极管,以减少布局面积占用。为了进一步降低功耗,采样电路将整流器输出电压的一部分与参考电压进行比较。此外,四级反相器用作缓冲器,以提供更接近理想情况的 IV 限制特性。在第一个反相器中使用串联传输门晶体管也尽可能降低了功耗。
集成电路 (IC) 或“芯片”是当今电子革命的发动机。电子学的影响日益扩大,主要由大规模 IC(如处理器和内存芯片)推动。只有通过研究针对 CMOS、双极和 BiCMOS 工艺制造集成电路设计的经典模拟电子学,才能深入了解这些芯片中使用的电子电路技术。此外,模拟电路技术在“现实世界”和数字系统之间的接口中起着至关重要的作用。例如:电压基准、放大器、滤波器、电平转换器、缓冲器。这方面的重要主题是专门用于电子电路的反馈和稳定性理论。本课程包括:IC 制造技术、IC 晶体管模型、晶体管电流源和放大器、输出级、运算放大器、反馈放大器的频率响应和稳定性、非线性和计算电路。
• 凭借业界首款集成到 MCU 中的斩波稳定运算放大器,现在可以通过将模拟信号链引入 MCU 来简化设计,而不会影响性能 • MSPM0 斩波稳定运算放大器在 -40 至 125ºC 工作范围内提供 <±0.5 mV 的输入失调漂移,显著降低高增益应用中的测量误差;借助灵活的片上模拟互连,可以创建各种模拟电路,包括反相/非反相放大器、缓冲器、PGA(增益从 1X 到 32X)以及差分或级联放大器拓扑 • MSPM0G MCU 系列提供双路、同时采样 4 Msps 12 位 SAR ADC,具有内部硬件平均值,可实现 14 位 250 ksps 采样,适用于需要更高精度监控电压和电流的应用,通常无需使用分立 ADC
摘要 — 本文提出了一种简单灵活的存储模型,可用于各种多周期最优电力流问题。所提出的模型专为各种研究用途而设计,具有以下主要特点:(i)该模型可以表示从住宅电池存储到电网规模抽水蓄能等各种规模的能源缓冲器的动态;(ii)它与电力流方程的平衡和非平衡公式兼容;(iii)凸松弛和线性近似允许将所提出的模型无缝集成到需要凸性或线性的应用中;(iv)提出了一种简约而标准化的数据模型,方便研究界使用。使用概念验证二十四小时存储调度任务验证了所提出的模型,该任务展示了该模型主要特征的价值。该模型的开源实现作为 PowerModels 和 PowerModelsDistribution 优化工具箱的一部分提供。
不允许使用其他类型的温度计。该设备必须具备以下特点: □ 热缓冲器中的温度探头* □ 可从设备外部轻松读取的有效当前、最小和最大温度显示器 □ 超范围温度警报和低电池指示器 □ 精度为 +/- 1° F (0.5° C) □ 用户可编程的记录间隔(或读数速率),至少每 30 分钟测量和记录一次温度 □ 每个存储疫苗的冰箱和冰柜都需要一个温度计 □ 温度计必须放在存储单元的中心区域 □ 温度计必须具有由适当实体颁发的最新有效校准证书† □ 设施需要一个带有最新校准证书的备用电池供电的数字数据记录器† * 超低温数字数据记录器(一些辉瑞 COVID-19):为了准确监测超低温,必须使用空气探头或专门为超低温设计的探头