1的基础100%;额外的资本支出(vs先前的7.35亿美元的资本支出)以100%的基础反映了本地通货膨胀2,假设碳酸盐的长期价格假设为15,000-20,000美元/t LCE,现金成本假设为4,500 –5,000 –5,000 USD/T LCE
Michael Stanley Whittingham博士是纽约宾汉顿大学的杰出化学教授。2019年,他与Akira Yoshino博士和博士的John B. Goodenough一起获得了诺贝尔化学奖,以开发锂离子电池。 在1972年在埃克森美孚的研发实验室工作时,他制作了第一个台式,室温,锂离子电池。 此最初发现为未来的可充电,轻质和高压电池科学的研究设定了预先研究。 为什么要锂? 锂是最轻的,最电阳性的金属。 因此,在电化学细胞中,它提供了高电压和能量密度。 这些特性使其不仅适用于笔记本电脑和手机等设备,而且对于运输和网格存储也是如此。 如今,惠廷汉姆博士正在努力使整个电池基础设施更加可持续和环保。 他最近赢得了2023年的300万美元Vinfuture大奖,该奖项认识到太阳能和锂电池存储的组合如何帮助抵抗气候变化。 - 内nejra Malanovic2019年,他与Akira Yoshino博士和博士的John B. Goodenough一起获得了诺贝尔化学奖,以开发锂离子电池。在1972年在埃克森美孚的研发实验室工作时,他制作了第一个台式,室温,锂离子电池。此最初发现为未来的可充电,轻质和高压电池科学的研究设定了预先研究。为什么要锂?锂是最轻的,最电阳性的金属。因此,在电化学细胞中,它提供了高电压和能量密度。这些特性使其不仅适用于笔记本电脑和手机等设备,而且对于运输和网格存储也是如此。如今,惠廷汉姆博士正在努力使整个电池基础设施更加可持续和环保。他最近赢得了2023年的300万美元Vinfuture大奖,该奖项认识到太阳能和锂电池存储的组合如何帮助抵抗气候变化。- 内nejra Malanovic
WSDY06A1Y2N 产品是单节锂离子 / 锂聚合物可充 电电池组保护的高集成度解决方案。 WSDY06A1Y2N 包括了先进的功率 MOSFET ,高精 度的电压检测电路和延时电路。 WSDY06A1Y2N 具有非常小的 SOT-23-5L 封装, 这使得该器件非常适合应用于空间限制得非常小的 可充电电池组应用。 WSDY06A1Y2N 具有过充、过放、过流、短路等所 有电池需要的保护功能,并且工作时功耗非常低。 WSDY06A1Y2N 不仅仅为穿戴设备而设计,也适用 于一切需要锂离子或锂聚合物可充电电池长时间供 电的各种信息产品的应用场合。
摘要:锂邻磷酸锂(Li 3 PS 4)已成为固态电池电池的有前途的候选人,这要归功于其高电导阶段,廉价的组件和较大的电化学稳定性范围。尽管如此,Li 3 PS 4中锂离子转运的显微镜机制远非充分理解,PS 4动力学在电荷运输中的作用仍然存在争议。在这项工作中,我们建立了针对最先进的DFT参考的机器学习潜力(PBESOL,R 2扫描和PBE0),以在Li 3 PS 4(α,α,β和γ)的所有已知阶段(α,α,β和γ)的所有已知阶段解决此问题,以实现大型系统大小和时间尺度。我们讨论了观察到的Li 3 PS 4的超级离子行为的物理来源:PS 4翻转的激活驱动了结构性过渡到高导电阶段,其特征在于Li地点的可用性增加以及锂离子扩散的激活能量的急剧降低。我们还排除了PS 4四面体在先前声称的超级离子阶段中的任何桨轮效应,这些阶段以前声称,由于PS 4 Flips的速率和Li-ion Hops在熔化以下的所有温度下,li-ion扩散。我们最终通过强调了Nernst -Einstein近似值以估计电导率的失败来阐明电荷转运中外部动力学的作用。我们的结果表明,对目标DFT参考有很强的依赖性,而PBE0不仅对电子带隙,而且对β-和α -LI 3 PS 4的电导率提供了最佳的定量一致性。
后减薄是半导体制造中器件制造和先进封装的关键部分。当由于处理困难导致最终晶圆厚度变得非常薄(比如 <100µm)时,载体支撑晶圆减薄就具有吸引力。减薄后处理(沉积、化学机械抛光 [CMP]、键合等)也受益于刚性和热机械稳定的支撑结构。为了实现最终晶圆的非常低的总厚度变化 (TTV),载体晶圆和临时键合材料(通常是粘合剂层)都必须提供足够低的 TTV。载体晶圆还必须具有合适的热膨胀系数 (CTE)。在本文中,我们介绍了一种玻璃载体解决方案和临时键合方法,它们结合起来可实现低 TTV 晶圆减薄。使用直径 150mm 的单晶钽酸锂晶圆进行可行性演示,仅通过晶圆研磨即可减薄 5µm。
透明导电金属氧化物已成为研究的主题,这要归功于它们的独特物理特性以及潜在的微观和纳米电子设备和显示单元的应用。这些材料的基本实际应用是基于明显的特异性抗性和高可见的透射率。透明的金属氧化物尤其包括诸如碳锡氧化物,氧化锌,氧化镉等化合物。氧化锌半导体作为压电和光纤材料具有实用的应用潜力,可作为功能性气体传感器组件,表面声设备,透明电极和太阳能电池[1-4]。高光带隙值(〜3。3 eV在室温下)和激子结合能(约60 meV)允许将ZnO作为创建下一代紫外线光电设备和彩色显示单元的磷光器的材料。对于上面提到的许多应用,例如,通过合金来控制ZnO薄膜结构的物理参数的不稳定性是必不可少的。在这种情况下,铜合金添加剂更有效,因为铜是半导体中迅速扩散的杂质,它会导致结晶结构和物理性能的修改,例如,表面状态能量参数以及光学特性[5-7]。后者提供了有关光学主动故障的能量结构的其他信息,这具有很高的实际兴趣。这项研究的目的是研究未扎的ZnO铜掺杂(ZnO:Cu)薄膜的光光谱的行为。
减薄硅芯片在柔性基板上的倒装芯片组装 Tan Zhang、Zhenwei Hou 和 R. Wayne Johnson 奥本大学 阿拉巴马州奥本 Alina Moussessian 和 Linda Del Castillo 喷气推进实验室 加利福尼亚州帕萨迪纳 Charles Banda 物理科学实验室 摘要 将减薄硅芯片(25-100 µ m)组装到柔性基板上为从智能卡到太空雷达等各种应用提供了超薄柔性电子产品的选择。对于高密度应用,可以通过堆叠和层压预组装和测试的柔性层然后处理垂直互连来制造 3-D 模块。本文介绍了将减薄芯片倒装芯片组装到聚酰亚胺和液晶聚合物 (LCP) 柔性基板上的工艺。已经开发出两种用于聚酰亚胺和 LCP 柔性基板的组装方法。在第一种方法中,将焊料凸块芯片回流焊接到图案化柔性基板上。需要使用夹具在回流期间保持柔性基板平整。回流之后是底部填充分配和固化。底部填充分配工艺对于避免底部填充流到薄硅片顶部至关重要,我们将在下文中讨论这一工艺。在第二种方法中,通孔通过聚酰亚胺或 LCP 蚀刻,露出接触垫的底面。将焊膏挤入通孔,回流并清洗,在通孔中形成焊料“凸块”。对浸焊产生的具有低轮廓焊料凸块的芯片进行焊剂处理、放置和回流。然后对芯片进行底部填充。这种方法可降低总组装厚度。简介为了满足单芯片和堆叠芯片封装中不断降低的轮廓要求,正在开发薄芯片的组装工艺。1-4 柔性基板(25-50 µ m)提供了一种进一步减小封装厚度的方法。减薄的 Si-on-flex 结构也有利于太空应用。减薄的 Si 虽然易碎,但也很灵活。减薄的 Si-on-flex 可以卷成管状进行发射,并在太空中展开,从而形成带有集成电子设备的大面积天线。组装减薄的 Si-on-flex 必须解决的问题包括:基板设计和制造、减薄后的凸块、芯片处理、回流期间的基板平整度和底部填充分配。这些将在以下章节中讨论。基板本工作中使用了两种柔性基板材料:聚酰亚胺和液晶聚合物 (LCP)。LCP 特性包括 100GHz 下的良好介电性能、低吸湿性和极低的透湿性。5-13 LCP 的热膨胀系数 (CTE) 可以在 LCP 薄膜的双轴挤出过程中控制。市售薄膜的 CTE 为 8 和 17ppm/o C。在本工作中使用 8ppm/o C LCP 薄膜。在用于倒装芯片组装的传统柔性基板设计中,铜芯片连接点的图案化位置与芯片组装位置在柔性薄膜的同一侧(图 1)。阻焊层用于定义可焊焊盘区域(顶面设计)。另一种方法是蚀刻聚酰亚胺或 LCP 通孔,露出铜焊盘的底面(背面设计)。通孔通过激光钻孔或反应离子蚀刻 (RIE) 制成。倒装芯片从铜图案的对面组装(图 2),从而无需阻焊层并减小了总厚度。这种方法的另一个优点(低轮廓凸块)将在后面介绍。顶面聚酰亚胺基板由约翰霍普金斯大学应用物理实验室制造,而激光钻孔背面 LCP 设计由 STS ATL 公司制造。背面 (RIE) LCP 和聚酰亚胺基板由奥本大学制造。只需一层金属即可布线菊花链芯片互连图案。
R. Ariff a,b , CK Sheng a,* a 马来西亚登嘉楼大学科学与海洋环境学院,21030 Kuala Nerus,登嘉楼,马来西亚。b 马来西亚登嘉楼大学海洋工程技术与信息学学院,21030 Kuala Nerus,登嘉楼,马来西亚。使用酸性或氟化物溶液对硅表面进行湿法蚀刻具有技术和基础意义,这对于生产用于微电子封装所需厚度的可靠硅芯片至关重要。在这项工作中,我们研究了湿法蚀刻对浸入 48% HF/水溶液中的硅晶片的厚度耗散、重量损失、蚀刻速率、表面形貌和晶体性质的影响。蚀刻速率是通过蚀刻重量损失和深度随时间的变化确定的。结果表明,随着蚀刻时间的增加,硅的厚度减少和重量损失增加。在高分辨率光学显微镜下可以在蚀刻后的硅晶片表面观察到粗糙的表面。从 XRD 分析可以看出,蚀刻后硅的结晶峰强度变弱,这意味着硅衬底上形成的非晶结构表面的光散射减少。毕竟,这一发现可以作为生产可靠的硅薄晶片的参考,这对于更薄的微电子器件制造和纳米封装至关重要,从而减少环境污染和能源消耗,实现未来的可持续发展。(2021 年 3 月 27 日收到;2021 年 7 月 7 日接受)关键词:湿法蚀刻、Si、蚀刻速率、HF、H 2 O
