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黑暗模式是欺骗性的设计,影响用户与接口的交互,以使用户以外的其他人受益。先前的工作已经确定了窗户,图标,菜单和指针(WIMP)界面和Ubicomp环境中的黑暗图案,但是黑暗模式如何在增强和虚拟现实中表现出来(统称XR)需要更多的关注。因此,我们与20位XR和欺骗性设计专家进行了10次共同设计研讨会。我们的参与者基于最近的HCI/XR文献中介绍的应用原型共同设计了42个包含黑模式的方案。在共同设计的方案中,除了39个现有的情况外,我们还确定了10种新颖的黑暗模式,以及10个示例,其中与XR相关的特定特征可能会扩大了黑暗模式对用户的影响。基于我们的发现和先前的工作,我们提出了XR特异性属性的分类,这些属性促进了黑暗模式:感知,空间性,物理/虚拟障碍和XR设备感测。我们还介绍了专家对共同设计的场景的可能性和严重性的评估,并突出了他们考虑的这项评估的关键方面,例如,技术可行性,易于提高和分发恶意实现,以及应用程序的使用背景。最后,我们讨论了减轻XR黑暗模式并支持调节物体以减少潜在危害的方法。
已经研究了在电递电明模式下测试过程中焊接结构的幂IGBT模块的组件降解的主要机制和连接的界面。已经开发了焊接结构的功率IGBT模块组成部分降解机制的分类和出现,包括其发生和检测指标的原因。准备并进行了一个实验,以研究循环模式对IGBT模块设计个人元素载荷程度的影响。根据测试以短而长的电脱脂基化模式,构建了收集器发射器对周期数的饱和电压的依赖性,从而确定在测试模式或操作上没有数据的情况下,在不需要其他诊断措施的情况下,在没有数据或操作上没有数据的情况下,测试设备降解的主要机制。
