图 1:部件编号订购选项 ................................................................................................................................ 5 图 2:器件引脚排列 ................................................................................................................................ 7 图 3:142 球 FBGA ................................................................................................................................ 9 图 4:142 球 FBGA ................................................................................................................................ 10 图 5:功能框图 ...................................................................................................................................... 11 图 6:上电行为 ...................................................................................................................................... 12 图 7:写操作 ...................................................................................................................................... 17 图 8:写操作(E# 控制) ................................................................................................................ 18 图 9:总线周转操作 ................................................................................................................................ 19 图 10:读操作 ........................................................................................................................................ 20 图 11:4 字异步页面模式与传统异步模式的比较 ...................................................................................... 21 图 12:页面模式功能框图 ................................................................................................................ 22 图13:异步页读操作 ...................................................................................................................... 22 图 14:异步页写操作 ...................................................................................................................... 23 图 15:页写到单次写时序图 .............................................................................................................. 23 表 1:技术比较 ...................................................................................................................................... 4 表 2:有效组合列表 ................................................................................................................................ 6 表 3:信号描述 ...................................................................................................................................... 7 表 4:上电/断电时序和电压 ................................................................................................................ 13 表 5:器件初始化时序和电压 ................................................................................................................ 14 表 6:建议工作条件 ........................................................................................................................ 14 表 7:引脚电容 ........................................................................................................................................................................................................................ 14 表 8:直流特性 ...................................................................................................................................... 15 表 9:磁抗扰度特性 .............................................................................................................................. 15 表 10:交流测试条件 ............................................................................................................................. 15 表 11:绝对最大额定值 ...................................................................................................................... 16 表 12:写操作(W# 控制) ............................................................................................................. 17 表 13:写操作(E# 控制) ............................................................................................................. 18 表 14:写操作 ................................................................................................................................ 19 表 15:读操作 ................................................................................................................................ 20 表 16:页面模式交流时序 ................................................................................................................ 24 表 16:耐用性和数据保留 ................................................................................................................ 24 表 17:热阻规格 .......................................................................................................................... 25........................................................................... 24 表 16:耐久性和数据保留时间 ...................................................................................................... 24 表 17:热阻规格 ...................................................................................................................... 25........................................................................... 24 表 16:耐久性和数据保留时间 ...................................................................................................... 24 表 17:热阻规格 ...................................................................................................................... 25
非易失性 − √ √ √ 写入性能 √ − − √ 读取性能 √ − − √ 耐久性 √ − − √ 功率 − − − √ MRAM 是一种真正的随机存取存储器;允许在内存中随机进行读取和写入。MRAM 非常适合必须存储和检索数据而不会产生较大延迟的应用程序。它提供低延迟、低功耗、无限耐久性、高性能和可扩展的内存技术。AS30xxB16 采用小尺寸 48 球 FBGA(10 毫米 x 10 毫米)封装,支持 16Mb、32Mb 和 32Mb 密度。此封装与类似的低功耗易失性和非易失性产品兼容。AS30xxB16 提供工业扩展(-40°C 至 125°C)工作温度范围。每个单元在发送给客户之前都要经过 48 小时的老化。
Rana Alhalabi 1、Etienne Nowak 1、Ioan-lucian Prejbeanu 2 和 Gregory Di Pendina 2 1 CEA LETI,Minatec campus,17 Rue des martyrs,38054 Grenoble,法国 2 Univ. Grenoble Alpes,CEA,CNRS,Grenoble INP*,INAC,SPINTEC,F-38000 Grenoble,法国 摘要 — 自旋轨道扭矩磁性 RAM (SOT-MRAM) 方法代表了一种通过分离读取和写入路径来克服自旋转移扭矩 (STT) 存储器限制的新方法。由于每个位单元有两个晶体管,因此它对于不需要非常高密度的高速应用尤其有用。本文介绍了一种基于单个晶体管和单向二极管的高密度 SOT-MRAM 存储器阵列。这种方法有三个优点。 32kb 存储器阵列的晶体管数量减少了 45%,与传统 SOT 位单元相比,单元密度提高了 20%。此外,读取操作所需的控制更少,最终可实现高耐久性、高速度和高密度。关键挑战在于在感测裕度和读取能量之间进行调整。
非易失性 − √ √ √ 写入性能 √ − − √ 读取性能 √ − − √ 耐久性 √ − − √ 功率 − − − √ MRAM 是一种真正的随机存取存储器;允许在内存中随机进行读取和写入。MRAM 非常适合必须存储和检索数据而不会产生较大延迟的应用程序。它提供低延迟、低功耗、高耐久性、高性能和可扩展的内存技术。AS3xxx332 采用小尺寸(15mm x 17mm)142 球 BGA 封装。在 1、2、4Gb 密度下,该设备使用一个芯片选择 E#。在此配置中,形成一个 1、2、4Gb 的连续地址空间。在 8Gb 配置中,该封装有两个 4 个芯片组,每个芯片组可单独选择,但不能同时选择。每个芯片组可使用 E1# 和 E2# 选择。在 8Gb 配置中,不得同时选择 E1# 和 E2#,因为两个组共享相同的 I/O 引脚。AS3xxx332 提供工业扩展(-40°C 至 125°C)工作温度范围:这是以结温测量的。
图 3 ReRAM 特性的电极依赖性:(a) 50×50 μm 2 ,(b) 200×200 μm 2 。 5.结论我们利用 TiO x 作为电阻变化层制作了 ReRAM,并评估了其特性。在本次创建的条件下,没有观察到复位操作。这被认为是因为在复位操作过程中,由于氧气的释放,灯丝没有断裂。比较电极尺寸,50×50 μm2 的较小元件与 200×200 μm2 的元件相比,可获得更优异的特性。这被认为表明了氧化退火过程中的尺寸依赖性。 6.参考文献 [1] A. Hardtdegen 等,IEEE Transactions on Electron Devices,第 65 卷,第 8 期,第 3229-3236 页 (2018) [2] Takeo Ninomiya,基于氧化物材料设计和可靠性建模的电阻式存储器量产,名古屋大学研究生院博士论文 (2016) [3] D.Carta 等,ACS Appl. Mater. Interfaces,第 19605-19611 页 (2016) [4] D. Acharyya 等,微电子可靠性。54,第 541-560 页 (2014)。
Xilinx Virtex V5、Kintex US 以及 Microchip RTG4 和 RTPolarFire FPGA 的 RadHard 72M 和 144M QDRII+ SRAM 设备均可免费获得内存控制器。QDR-II+ SRAM 控制器管理基于 DDR 的源同步时序架构的复杂时序细节,并确保 FPGA 和 QDRII+ SRAM 内存之间的可靠数据传输。如果需要更高级别的辐射抗扰度来减轻单粒子干扰,控制器嵌入式 ECC (SECDEC) 也可作为 RTL 选项提供。请联系 hirel-memory@infineon.com 获取 RTL 代码和测试台的副本。
SRAM 闪存 EEPROM MRAM 非易失性 − √ √ √ 写入性能 √ − − √ 读取性能 √ − − √ 耐久性 √ − − √ 功率 − − − √ MRAM 是一种真正的随机存取存储器;允许在内存中随机进行读取和写入。MRAM 非常适合必须存储和检索数据而不会产生较大延迟损失的应用程序。它提供低延迟、低功耗、无限耐久性和可扩展的非易失性存储器技术。ASx016A04 具有串行外设接口 (SPI)。SPI 是一种同步接口,它使用单独的数据和时钟线路来帮助保持主机和从机的完美同步。时钟告诉接收器何时对数据线上的位进行采样。这可以是时钟信号的上升沿(从低到高)或下降沿(从高到低)或两个沿;有关更多详细信息,请参阅本数据表中的指令序列。当接收器检测到正确的边沿时,它可以锁存数据。 ASx016A04 采用小尺寸 8 焊盘 WSON 和 8 引脚 SOIC 封装。这些封装与类似的低功耗易失性和非易失性产品兼容。ASx016A04 已在 -40°C 至 125°C 的工作温度范围内进行了测试,并在 125°C 下进行了 48 小时老化测试。
背景:乳腺癌辅助治疗和新辅助治疗可降低乳腺癌死亡率,但可能会增加其他原因导致的死亡率。有关治疗益处和风险的信息广泛散布于文献中。为了指导临床实践,我们整理并审查了最高质量的证据。方法:搜索指南以确定推荐用于早期浸润性乳腺癌的辅助治疗或新辅助治疗方案。对于每种方案,系统文献搜索都确定了最高级别的证据。对于放射治疗风险,还进行了剂量-反应关系和现代器官剂量搜索。结果:美国和其他地方推荐的治疗方案包括化疗(蒽环类、紫杉烷、铂类、卡培他滨)、抗人表皮生长因子 2 疗法(曲妥珠单抗、帕妥珠单抗、曲妥珠单抗美坦新、来那替尼)、内分泌疗法(他莫昔芬、芳香化酶抑制剂、卵巢消融/抑制)和双膦酸盐。放射治疗方案包括保乳手术(全乳、部分乳腺、瘤床加强、区域淋巴结)和乳房切除术(胸壁、区域淋巴结)后。治疗方案由随机证据支持,包括 8 种治疗对照中的 10,000 多名女性,15 种治疗对照中的 1,000-10,000 名女性和 1 种治疗对照中的 1,000 名以下女性。大多数治疗对照将乳腺癌死亡率或复发率降低了 10-25%,而非乳腺癌死亡率并未增加。蒽环类化疗和放疗增加了总体非乳腺癌死亡率。蒽环类风险来自心脏病和白血病。放射风险主要来自心脏病、肺癌和食道癌,并且分别随着心脏、肺和食道放射剂量的增加而增加。紫杉烷类药物增加白血病风险。结论:这些益处和风险为个人的治疗决策和女性群体的建议提供了参考。
通过实现清洁工业交易中概述的共同目标所需的特定投资活动的活动,该沟通补充了现有的国家援助指南。与其他国家援助指南相比,在这种交流中,包括有关气候援助,环境保护和能源援助的指南(“ CEEAG”)2,这是有道理的,鉴于需要加速特定的投资以及对这种沟通范围内部贸易和竞争对内部市场的潜在影响和竞争的低风险,这是合理的。本沟通中概述的兼容性规则是基于案件实践和委员会收集的相关经验,也是根据临时危机和过渡框架的应用(“ TCTF”)的应用。3