本介绍性文章将早期半导体检测器向现代RA Diation Imaging Instruments的演变(现在具有数百万个信号处理细胞)的发展方面,利用了硅纳米技术的潜力。MEDIPIX和TIMEPIX组件是此演变中的主要移动器之一。可以使用单个电离粒子和光子检测矩阵中检测矩阵中的影响来研究这些基本量子本身,或者允许人们可视化辐射下对象的各种特征。x-射线成像可能是后者最常用的模态,新成像器可以处理每个事件x - 光子以获取具有有关对象的结构和组成的其他信息的图像。可以利用能量特异性X射线吸收来成像原子分布。出现了无数其他应用程序。为例,在分子光谱学中,每个像素中的亚纳秒时序可以实时传递,以单分子的飞行时间来实时映射样品的分子组成,与经典的凝胶电泳相比,革命是革命。参考文献和一些个人印象可在超过50年的时间内照亮辐射检测和成像。推断和对未来发展的狂野猜测总结了这篇文章。
加泰罗尼亚技术大学 (UPC)、德国国家计量研究所 (PTB) 和德国联邦辐射防护局 (BfS) 在西班牙莫勒鲁萨空中场地进行的比对活动中,分析了 50 mm × 50 mm(直径 × 高度)NaI 和 38 mm × 38 mm CeBr 3 闪烁体以及安装在无人机系统 (UAS) 上的 1500 mm 3 CZT 半导体机载光谱探测器的响应。根据在 10 m 至 60 m 高度范围内进行的背景飞行中的光谱低能区计数率、人造计数率和环境剂量当量率,计算了指示存在人工放射性的判定阈值。比较了不同机载系统在不同飞行高度探测和确定 345 MBq 137 Cs 点源活度的能力。最后,机载系统展示了通过在 10 m、20 m 和 40 m 高度平行飞行来定位 137 Cs 点源的能力。
极紫外光刻 (EUVL) 技术基础设施的开发仍然需要许多领域达到更高水平的技术就绪状态。需要引进大量新材料。例如,开发 EUV 兼容薄膜以采用经批准的 EUVL 光学光刻方法需要以前没有的全新薄膜。为了支持这些发展,PTB 凭借其在 EUV 计量方面 [1] 的数十年经验 [2],在带内 EUV 波长和带外提供了广泛的光化和非光化测量。两条专用的、互补的 EUV 光束线 [3] 可用于辐射度 [4,5] 特性分析,分别受益于小发散度或可调光斑尺寸。EUV 光束线 [5] 覆盖的波长范围从低于 1 nm 到 45 nm [6],如果另外使用 VUV 光束线,则可以覆盖更长的波长。标准光斑尺寸为 1 毫米 x 1 毫米,可选尺寸低至 0.1 毫米至 0.1 毫米。单独的光束线提供曝光设置。过去曾采用 20 W/cm 2 的曝光功率水平,通过衰减或失焦曝光可获得较低的通量。由于差分泵送阶段,样品可以在曝光期间保持在定义的气体条件下。我们介绍了我们用于 EUV 计量的仪器和分析能力的最新概述,并提供了数据以供说明。
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数据记录器每秒测量一次每个输入,但气压(每分钟测量一次)和积雪深度(每 3 分钟测量一次)除外。蒸汽压是根据空气温度和 RH 计算得出的。数据记录器生成 1 分钟和 30 分钟的风速、矢量平均风速、矢量平均风向、空气温度、RH 和蒸汽压的平均值。算法计算风向的标准偏差。1 分钟的输出包括气压读数和该分钟内的总降水量。30 分钟的输出包括电池电压、30 分钟总降水量和平均积雪深度。30 分钟的输出还包括风速、温度、RH、蒸汽压和气压的标准偏差。
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按照传统定义,辐射测量是研究电磁辐射功率、光谱特性和其他参数测量的领域。该术语适用于波长范围从纳米到几十微米、所有光功率水平的电磁辐射特性。由于辐射测量的定义非常广泛,因此使用各种具有各种物理特性的测量设备或辐射计。因此,有必要为所有辐射测量保持一个共同的尺度,以便每个辐射计系列都可以追溯到该尺度。与辐射测量相关,基本国际单位制 (SI) 为光强度保留了一个基本单位,称为坎德拉。光强度测量技术已从 1948 年之前对各种标准蜡烛和灯的比较发展到 1979 年之后适用于低温辐射计的光功率测量。尽管测量技术不断改进和完善,但最先进的光强度测量的不确定度仅为 0.1% 1,而辐射测量的不确定度约为 0.01。这是任何 SI 基本单位测量中最差的精度。因此,人们仍在继续寻找更高精度的测量方法。量子光学(即单光子源和双光子源以及单光子探测器)的进步为辐射测量开辟了一种新方法,我们将其称为“量子辐射测量”。正如我们将看到的,这种称谓有些人为,因此需要澄清。就本评论而言,量子辐射测量法被定义为借助单光子和
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红外辐射的波长比可见光长(从标称红色可见线波长 700 纳米开始直到 1 毫米)。第一种用于测量红外辐射的防御设备是在第一次世界大战之前开发出来的。在第二次世界大战期间,红外探测也用于跟踪(Hudson,1969)。第一批寻找红外,即红外(热)辐射的导弹是在 20 世纪 50 年代初开发出来的,而由于雷达系统的成功,它的广泛应用大约在 10 - 15 年后开始。Titterton(2006)通过统计发现,自 20 世纪 60 年代以来的 40 年间,热寻的导弹造成了超过 80 % 的战斗损失。在海湾战争 (1991) 期间,76% 的失事飞机是 IR(红外)导弹造成的,而在科索沃战争期间,北约飞机不得飞到 15,000 英尺以下,因为导弹的有效性(Santos 等人,2007 年)。与此同时,自 1987 年以来,26 年来,共有 35 架民用飞机遭到肩扛式导弹袭击,造成 500 多人死亡(Bolkcom 等人,2004 年)。(事实上,这个数字可能要小一些,因为一些失事的民用飞机用于军事目的,还有一些,或者更确切地说,大多数飞机是在冲突地区遭到袭击的,在那里它们可能被视为用于军事目的(Sweetman,2003 年))。无论如何,2003 年,国土安全部发起了可能是第一个
β剂量速率异质性是OSL测量和等效剂量分布中散射的已知来源。没有适当的方法来描述和说明它,它可以为OSL年龄的不确定性做出重大贡献。因此,必须研究β剂量率(βDR)分布以改善异质样品的日期。在这里,我们提出了一种定量和高灵敏度放射自显增生的方法。使用高度异构的颗粒岩样品证明了这一点。使用脉冲激光刺激以及通过在超低背景环境中样品的地下暴露来提高该方法的准确性和灵敏度。使用伽马(γ)辐射和蒙特卡洛模拟对结果进行校准,并已使用均匀剂量速率标准验证。结合了对同一样品的自动载体结果和SEM反向散射图像的分析,可以确定不同矿物相的剂量率分支。由于样品中晶粒的聚类,注意到从成像中获得的K-五晶粒的剂量率与使用OSL日期常用的方法计算的剂量率之间的显着差异。这代表了粗粒岩石样品中年龄偏差的风险,可以使用剂量速率成像方法对其进行分析。与总剂量率相比,βDR空间分布也会导致单粒接收到的显着剂量散射。讨论了这种β剂量速率分布对粗粒晶体材料的OSL年代的影响。