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2024 年 5 月 28 日上午 10:30 至中午 12:00，在科罗拉多州丹佛市举办了“下一代微电子计量技术发展中的挑战和机遇”特别会议，作为 2024 年 IEEE 第 74 届电子元件和技术会议的一部分。会议由 NIST 的 Ran Tao 和宾汉姆顿大学的 Benson Chan 共同主持，TechSearch International 的 Jan Vardaman 主持了小组讨论。五位杰出演讲者，CHIPS for America 的 Paul Hale、英特尔公司的 Gaurang Choksi、台积电的 Zhihua Zou、ASE 集团的 CP Hung 和 KLA 公司的 Chet Lenox，分享了他们对当今半导体行业在供应链各个环节面临的计量挑战和机遇的看法和见解。会议以每位小组成员的单独演讲开始，随后是主持小组讨论和互动问答环节。
下一代微电子的先进计量技术
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