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20 世纪 60 年代初期,IC 行业尚处于起步阶段,IC 故障十分常见。人们认识到,一系列标准筛选测试可以减少或消除这些“早期死亡率”类型的故障,因此美国空军 RADC 实验室承担了这项任务,并于 1968 年开发了 MIL-STD-883。

面向 2020 年代的微电子元件工程

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