点击购买,资源将自动在新窗口打开.
获取独家产品信息,尽享促销优惠!立即订阅,不容错过
* 限···时··优惠
20 世纪 60 年代初期,IC 行业尚处于起步阶段,IC 故障十分常见。人们认识到,一系列标准筛选测试可以减少或消除这些“早期死亡率”类型的故障,因此美国空军 RADC 实验室承担了这项任务,并于 1968 年开发了 MIL-STD-883。
主要关键词