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利用这一独特的机会,了解工业设计和生产工程中实际问题的最新解决方案。了解使用光学技术保护我们共同的文化遗产的最新进展。了解将宏观、微观和纳米尺度的光学测量和测试原理推向计量学前沿的新方法。交流新想法,解决共同关心的问题,并获取上述主题领域尚未发布的信息。与其他工程师、科学家、研究人员和管理人员分享您的研究成果。演示文稿将永久存档在 SPIE 数字图书馆中,并提供给国际科学界寻求学习、发现和创新的其他人。

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