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推扫式传感器 2000 年，徕卡公司首次推出了用于测绘的推扫式传感器，其应用范围不断扩大，重点是大面积正射影像镶嵌。在获取高质量、几何一致且稳健的影像方面，推扫式方法存在许多有据可查的缺点，这是因为成像质量和动态范围与机载平台的速度直接相关。推扫式捕获像素的有效覆盖范围形状也会随地速和高度而变化。最后，推扫式影像没有固有的几何强度，完全依赖于对机载 GPS 和 IMU 数据和时间的复杂处理，以生成可用于公制应用的影像。电子和处理方面的改进可以尽量减少但不能完全消除这些固有的挑战。推扫式传感器在市场上仍然很活跃，但主要用于正射影像镶嵌项目，在这些项目中，效率和摄影测量精度并不是最重要或最重要的因素。即使是曾经捍卫推扫式技术的供应商现在也认识到了取景传感器的优势，并同时提供这两种传感器。推扫式技术的基本限制是无法在不影响图像质量的情况下，在广泛的飞行高度和条件下提供灵活性和曝光控制。
UltraCam 摄影测量数字航空相机
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