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摘要 在尝试开发基于电子电荷的电容标准时,一个多年来一直悬而未决的问题是真空间隙低温电容器的频率依赖性;关键的困难是:我们如何测量低至 0.01 Hz 的频率依赖性?在本文中,我们成功地将频率依赖性的上限设定为 0.01 Hz 至 1 kHz,约为 2 × 10 − 7 。我们通过考虑 Cu 电极表面绝缘膜的色散模型来实现这一点;该模型的关键预测是色散在低温下会降至非常低的值。通过测量有限频率范围内的频率依赖性,我们验证了这一预测,从而提供了足够的支持来得出该模型是正确的结论。我们还指出,与电容标准无关,这种低温电容器为非晶材料低温动力学等领域的测量提供了与频率无关的标准。

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