详细内容或原文请订阅后点击阅览
科学家解决了长期以来的微型领导问题的羽毛技术
天津大学的科学家开发了一种开创性的新方法来测试微型领导的晶圆，而不会造成任何损坏。对于电视，智能手机和其他高级显示器中使用的下一代高质量屏幕，这可能是迈出的一大步。与当前的科学家相比，微型发光的二极管是微小的发光二极管，比当前的科学家解决了长期以来的微型领导问题，它首先在Knowridge Science报告中出现了长期存在的微型领导问题。
来源:Knowridge科学报告天津大学的科学家开发了一种开创性的新方法来测试微型领导的晶圆，而不会造成任何损坏。
对于电视，智能手机和其他高级显示器中使用的下一代高质量屏幕来说，这可能是向前迈出的一大步。
微型领导是微型发光二极管，比当前技术更明亮，更节能且持久的显示器更明亮，更节能且持久。
，但是在制造过程中，即使是最小的缺陷也会引起问题。
要保持高质量且成本低，制造商需要在生产过程的早期测试这些晶圆。
挑战是这样做的，而不会损坏微妙的微型领导表面。
由天津大学精密仪器和光电工程学院的研究团队Huang Xian教授领导。
他们的研究于6月13日发表在《自然电子》中。
自然电子，不使用刚性探测的刚性探针，而尖锐的探针将坚硬的探针压向表面，而是开发了一个灵活的3D探针阵列，该探针阵列会轻轻适应微型领导的晶圆的形状。
这些新探针仅施加了0.9兆帕的柔和压力，例如浅呼吸的柔软度。这允许仔细，高速电测试，同时保持晶圆表面完整。
黄教授解释说，其灵活探针的压力仅占传统刚性探针适用的千分之一。结果，晶圆不仅受到保护，而且探针本身的持续时间更长。即使经过一百万个测试周期，探针仍然像新的一样起作用。 为了使系统更加有效，团队还创建了一个可与软探针一起使用的自定义测试设置。这种新组合为制造商提供了一种筛查缺陷和控制质量的有力方法，而不会减慢产量或造成损害。
黄教授解释说，其灵活探针的压力仅占传统刚性探针适用的千分之一。结果，晶圆不仅受到保护，而且探针本身的持续时间更长。即使经过一百万个测试周期，探针仍然像新的一样起作用。为了使系统更加有效，团队还创建了一个可与软探针一起使用的自定义测试设置。这种新组合为制造商提供了一种筛查缺陷和控制质量的有力方法，而不会减慢产量或造成损害。