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在噪音中找到清晰度：新方法在纳米级恢复隐藏的信号
在纳米技术世界中，显然并不容易。当您试图了解材料的特性与纳米级的结构有何关系时，这会更加困难。 Piezoresponse力显微镜（PFM）等工具可以帮助科学家凝视材料的纳米级功能，从而揭示了它们对电场的反应。但是这些信号通常被掩埋在噪音中，尤其是在最有趣的物理发生的情况下。
来源:英国物理学家网首页在纳米技术世界中，显然并不容易。当您试图了解材料的特性与纳米级的结构有何关系时，这会更加困难。 Piezoresponse力显微镜（PFM）等工具可以帮助科学家凝视材料的纳米级功能，从而揭示了它们对电场的反应。但是这些信号通常被掩埋在噪音中，尤其是在最有趣的物理发生的情况下。
现在，佐治亚理工学院的研究人员开发了一种有力的新方法，可以从最嘈杂的数据中提取有意义的信息，或者何时，材料的响应是最小的。他们的方法将物理建模与高级统计重建结合在一起，可以显着提高纳米级测量特性的准确性和信心。
由Nazanin Bassiri-Gharb，Harris Saunders，Jr。Jr.的主席兼教授George W. Woodruff机械工程学院和材料科学与工程学院（MSE）主席和教授的领导。
报告共同领导的作者Kerisha Williams，前MSE博士学位。学生和前博士学位的亨利·沙瓦乌·尤奇（Henry Shaowu Yuchi）米尔顿·斯图尔特（H. Milton Stewart）工业与系统工程学院（ISYE）的学生率领这项研究。其他合作者包括凯文·利贡德（Kevin Ligonde），博士学位。伍德拉夫学校的学生； Mathew Repasky，曾任博士学位Isye的学生； Yao Xie，Isye的可口可乐基金会主席兼教授。 信号问题 PFM是一种扫描探针显微镜技术。这是了解材料在最小尺度上的行为方式的关键工具。该技术是通过在施加电场的同时扫描一条微小的悬臂尖端，然后测量表面响应的方式，从而揭示有关机电和极性特性的细节。 填补空白的更聪明的方法 标准模型
共同领导的作者Kerisha Williams，前MSE博士学位。学生和前博士学位的亨利·沙瓦乌·尤奇（Henry Shaowu Yuchi）米尔顿·斯图尔特（H. Milton Stewart）工业与系统工程学院（ISYE）的学生率领这项研究。其他合作者包括凯文·利贡德（Kevin Ligonde），博士学位。伍德拉夫学校的学生； Mathew Repasky，曾任博士学位Isye的学生； Yao Xie，Isye的可口可乐基金会主席兼教授。
信号问题