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利用电子背散射衍射进行晶粒尺寸测量
DEPC (MN) 037 高温压缩试件的微观结构映射 - 通过电子背散射衍射进行晶粒尺寸计量摘要电子背散射衍射 (EBSD) 越来越多地被用于通过映射试件截面的晶体学取向来表征许多工程材料的微观结构。这些晶体学信息传统上用于揭示详细的相和纹理信息，但它也可以提供有关晶粒尺寸和相关参数的大量信息。这些参数有时被视为直接光学技术的简单测量值。然而，EBSD 的自动化特性意味着它可以提供更多信息，而不受个别操作员的技能和主观性的影响，例如在设置样品照明以进行自动图像分析时。虽然 EBSD 可以自动化晶粒尺寸测量过程，但在样品制备、操作条件的选择和使用采集后降噪方面仍需小心。本文报告了这些对测量晶粒尺寸影响的实际例子，并将 EBSD 结果与光学结果进行了比较，突出了 EBSD 在检测较小晶粒和检测孪晶界时更高的分辨率所产生的影响。本文讨论了报告结果的方式，并将结果与晶粒尺寸分布的理论预测进行了比较。这项工作是在需要量化微观结构异质性的更广泛背景下进行的，以便验证工程合金热变形的变形模型，这是与谢菲尔德大学和威尔士大学（斯旺西）联合项目的一部分。KP Mingard、EG Bennett、AJ Ive 和 B Roebuck 2006 年 1 月
移动无线电波传播的衍射建模...
第七章 - 新的传播模型 146 7.0 简介 146 7.1 平边模型 146 7.1.0 简介 146 7.1.2 示例计算 150 7.1.3 标准化属性 151 7.1.4 切向入射 152 7.1.5 包含最终建筑物衍射 153 7.1.6 平边模型的特点。 155 7.1.7 频率变化 158 7.1.8 远程基站模型 159 7.1.9 结论 161 7.2 边缘减少技术 162 7.3 混合预测模型 166 7.3.0 简介 166 7.3.1 模型描述 166 7.4 位置可变性 169 7.4.0 简介 169 7.4.1 基础知识 169 7.4.2 先前的工作 170 7.4.3 建筑物高度分布 171 7 .4.4 单个建筑物高度变化 172 7.4.5 多个建筑物高度变化 174 7.4.6 总结 176 7 .5 结论 176
Holo/Or 的衍射光学元件
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X射线衍射（XRD）
英国物理学家W.H.先生布拉格和他的儿子W.L.爵士Bragg在1913年建立了一种关系，以解释为什么晶体的裂解面似乎以某些入射角（Theta，θ）反映了X射线梁。变量d是晶体中原子层之间的距离，而可变lambdaλ是入射X射线束的波长； n是整数。此观察是X射线波干扰（roentgenstrahlinterferenzen）的一个例子，通常称为X射线衍射（XRD），并且是假定晶体周期性原子结构的直接证据。