~,.Minimonitor EP15 + 900 系列速率计 -CFA (cps Bq-l cm~ -重新提交后 -!!Q!针对源距离效应进行了校正。18 NE DP6 探头 + PCM5/1 速率计 -%21t 效率 -重新提交后未针对源距离效应进行校正。19 NEDP6 探头 + PCM5/1 速率计 -CFA (cps Bq-l cm2) -重新提交后 !1Q!针对源距离效应进行了校正。20 Minimonitor EP15 + 900 系列速率计 -%21t 效率标准化为 3mm 以应对源距离效应。21 Minimonitor EP15 + 900 系列速率计 -CFA(cps Bq-l cm2)归一化至 3mm 以检测源距离效应。22 NE DP6 探头 + PCM5/1 速率计 -%21t 效率归一化至 3mm 以检测源距离效应。23 NE DP6 探头 + PCM5/1 速率计 -CFA(cps Bq-l cm2)归一化至 3mm 以检测源距离效应。24 推荐放射性核素结果摘要 2~
由于采用了内部开发的背光技术,LAD 符合 NVIS B 类和 A 类标准,并且在日间模式下不会影响全色域性能。由于白点稳定,显示器输出随时间和温度保持不变。显示器的内部光学粘合确保反射几乎为零,从而以最小的功耗实现完全阳光下的可读性。
Chaoyu Song 1,2 ,, Fanjie Wang 1,2 ,, Yuangang Xie 1,2 ,, Yuchen Lei 1,2 ,, Zhengzong Sun 3* ,
1 佐治亚理工学院,电气与计算机工程学院,美国佐治亚州亚特兰大 30332- 0250,2 CNRS,UMI 2958 佐治亚理工学院 - CNRS,2 rue Marconi,57070 梅斯,法国,3 佐治亚理工学院洛林分校,2 rue Marconi,57070 梅斯,法国,4 佐治亚理工学院,伍德拉夫机械工程学院,美国佐治亚州亚特兰大 30332- 0250,5 拉斐特研究所,2 rue Marconi,57070 梅斯,法国。 6 巴黎萨克雷大学纳米科学与纳米技术中心,C2N-Site de Marcoussis,Route de Nozay,91460 Marcoussis,法国。
与普遍使用的热驱动蒸馏工艺相比,膜基分离技术具有能耗低、操作简便、占地面积小等竞争优势。[1–3] 此类技术在水修复、气体净化、有机溶剂纳滤、催化剂回收、化学精炼等多种分离场景中具有广阔的应用前景。[4] 在制造基于陶瓷、[5–6] 聚合物 [7] 和混合基质等不同类型的膜方面已经取得了重大进展。[8–9] 与聚合物膜相比,传统无机膜(如沸石)表现出良好的热/化学稳定性,可以适应更恶劣的操作条件,具有无与伦比的分离性能。[5–7] 其缺点是由于其无机性质,其加工性能和孔径和微结构环境的可定制性有限,这可能会阻碍其
B为VI族元素,例如Bi 2 Se 3 、Bi 2 Te 3 、Sb 2 Te 3 和In 2 Se 3 ,由于其独特的电子性质而受到越来越多的关注。 [2] 例如,半导体In 2 Se 3 表现出厚度相关的带隙(从块状晶体的1.3 eV到单层的2.8 eV)。 [3] 与无间隙石墨烯和过渡金属二硫属化合物相比,In 2 Se 3 的电子性质显示出明显的优势,后两者仅在单层中表现出相对较大的带隙(1.5–2.5 eV)。 [4] 当用作光学材料时,In 2 Se 3 表现出高吸收系数、宽范围响应度(从紫外线(325 nm)到短波长红外(1800 nm))和高灵敏度。 [5] 与其他对空气敏感的直接带隙二维材料(如黑磷(BP)[1c])不同,完整的 In 2 Se 3 薄片在空气中非常稳定。最近,基于单个 In 2 Se 3 纳米片的光电探测器具有高光敏性(10 5 AW − 1 )和快速、可逆和稳定的光响应特性。[5] In 2 Se 3 的优异性能优于许多其他二维材料(如石墨烯、BP 和 MoS 2 ),为大面积光电探测器提供了重要的基础。[6] 尽管如此,具有大晶畴的无缺陷 In 2 Se 3 薄片的可扩展生产仍然是其实际应用的障碍。微机械剥离是生产高质量薄 In 2 Se 3 纳米片的最著名方法。[5,7] 然而,它的剥离产率极低,仅适用于基础研究。 [8] 克服这一限制的潜在方案包括化学气相沉积、[2c] 液相剥离 [9] 和湿化学合成。[10] 然而,这些方法制备的 In 2 Se 3 薄片通常具有大量缺陷和较差的光电性能。[9,11] 例如,通过气相沉积获得的 In 2 Se 3 纳米片的光响应度(3.95 × 10 2 AW − 1)明显低于透明胶带剥离薄片(10 5 AW − 1)。[8] 从基本角度来看,In 2 Se 3 是一种由弱范德华力连接的层状材料,层间距离为 0.98 nm,比许多其他层状化合物(0.3–0.7 nm;图 1 a、b;图 S1,支持信息)大得多。因此,插入客体分子或离子,特别是在溶液中电流的驱动下,可以成为将二维晶体分层成单个薄片的合理策略。[12]
摘要:在本研究中,我们展示了施加的机械应变与单层 MoS 2 光响应度增加之间的直接相关性。这表明拉伸应变可以提高单层 MoS 2 光电探测器的效率。在我们的设备中观察到的高光电流和延长的响应时间表明,设备主要受光电门控机制控制,施加拉伸应变时,这种机制变得更加突出。此外,我们已经证明,非封装的 MoS 2 单层可以在基于应变的设备中使用许多次循环和长时间,在环境条件下表现出耐久性而不会丧失功能。这种坚固性强调了 MoS 2 在进一步功能化和利用不同柔性传感器方面的潜力。关键词:MoS 2、应变、应变传感器、光电探测器、原子力显微镜、PL 光谱、光电流光谱
必须充分利用它们的物理特性并成功实现器件,例如各种成功的 III-V 半导体器件 40,41 ——最终目标是外延和单晶生长。Sb2Te3(以及其他拓扑绝缘体,如 Bi2Te3 和 Bi2Se3)的外延膜已通过分子束外延工艺直接生长,29,30 该技术在批量生产中显示出其局限性。另一方面,化学气相沉积技术存在形态控制不佳的问题,我们专门研究了 MOCVD 在这方面的研究。 TI 生长中常用的衬底,例如 Si(100)、Si(111) 和 Al 2 O 3 (0001),与 Sb 2 Te 3 (以及一般的 TI) 存在明显的晶格失配,因此在存在旋转畴的情况下,会生长为取向性较差的多晶层 23,32 – 34 ,只有少数例外 42,43
摘要近年来,范德华(Van der Waals)材料中表面声子极地(SPHP)的激发受到了纳米光子学界的广泛关注。alpha相钼三氧化物(α-MOO 3),一种天然存在的双轴双曲晶体,由于其在不同波长带的三个正交指导下支持SPHP的能力(范围10-20 µM),因此出现是一种有前途的极性材料。在这里,我们报告了大面积(超过1 cm 2尺寸)的制造,结构,形态和光学IR表征,α -moo 3多晶膜通过脉冲激光沉积沉积在熔融二氧化硅底物上。由于随机晶粒分布,薄膜在正常发生率下未显示任何光学各向异性。但是,提出的制造方法使我们能够实现单个α相,从而保留与α -moo 3片的语音响应相关的典型强分散体。报告了IR光子学应用的显着光谱特性。例如,在1006 cm -1处具有极化的反射峰,动态范围为∆ r = 0.3,共振Q因子在45°的入射角下观察到高达53的共振Q。此外,我们报告了SIO 2底物的阻抗匹配条件的实现,从而导致独立于极化的几乎完全完美的吸收条件(R <0.01)在972 cm-1处,该条件可维持以较大的入射角维持。在此框架中,我们的发现似乎非常有前途的,对于使用远场检测设置,用于有效和大规模的传感器,滤镜,过滤器,热发射器和无标签的生物化学传感设备,用于进一步开发无IR线印刷膜,可扩展的膜,用于高效和大规模的传感器,过滤器,热发射器和无标签的生化感应设备。
本文提出了新的实验和数值方法,以表征环氧聚合物底物的转移过量。我们研究了陶瓷面板上的多芯片模块以及封装为模具阵列包装(MAP)的印刷电路板上。实验表明,在过度过度过程中的聚合物流量显着取决于霉菌的高度:虽然标准的地图型霉菌腔均匀地填充,并且在大多数情况下,在大多数情况下,低空腔高度(<500 l m)可以导致前部的流量集中在几个流动路径上(forling parsssssssssssssssssssssspersifecifecte)。我们开发了一种数字方法来描述这种不均匀的聚合物流。流动前填充的原因似乎是聚合物粘度的局部变化,可在不同的流路径上强制颈部。指法会导致空气陷阱的形成和过多的电线。我们还开发了新的实验方法来测量腔内的压力分布:我们的传感器基于Fujufilm的市售,具有压力敏感的薄膜,并且在最高180的温度下运行。2010 Elsevier Ltd.保留所有权利。