摘要 — 我们开发了一种能够识别低电平脉冲射频干扰 (RFI) 的新型微波辐射计探测器。敏捷数字探测器可以通过直接测量信号的其他矩(而非传统测量的方差)来区分 RFI 和自然热辐射信号。峰度是预测电压的四阶中心矩与二阶中心矩的平方之比。它可以很好地指示 RFI 的存在。本文解决了与正确计算峰度相关的许多问题。推导出了在没有和存在脉冲正弦 RFI 的情况下峰度的平均值和标准差。峰度对短脉冲 RFI(例如来自雷达)的敏感度远远高于对连续波 RFI 的敏感度。发现脉冲正弦 RFI 的最小可检测功率与 ( M 3 N ) − 1 / 4 成比例,其中 N 是独立样本的数量,M 是接收器中的频率子带数量。
应用电路 微机复位电路 通常需要复位电路来保护微机系统免受电源线中断导致的故障。以下示例显示了不同输出配置如何在各种系统中执行复位功能。 NMOS 开漏输出应用,用于独立电源
连接的自主移动性(CAM)是6G网络的主要利益相关者。这样的网络将导致开创性的方案,这些方案超出了公路车辆的范围,包括所有演员在移动性中,创建统一的智能运输和通信系统。尽管取得了成果,但仍需要解决复杂的技术挑战,以定义更灵活,可编程的网络,从而提供了改善的性能。研究活动的目的是解决追求CAM智能6G网络的定义的此类挑战。将开发新的网络管理技术,包括零接触管理和资源编排方法,还利用了AI算法提供的增强功能。这项研究将使创建自我管理的IoT-Edge-Cloud Continuum,其中未来的CAM应用可以充分利用6G的灵活性和功能。相关的计算量 - 密集任务将由设想的可编程和可配置的6G网络管理,这将为高性能人工智能提供支持。这将允许处理计算机视觉和推理任务,以实现所考虑的合作和分布式方法,为“连接的情报”概念铺平了道路。重要的是,链接基金会参与了国际倡议和联盟,上述活动将有助于发展
粒子物理领域建立在20世纪的主要科学革命的基础上,尤其是在2012年在CERN的Higgs Boson赢得诺贝尔奖奖得主的实验发现和理论发展上。在欧洲粒子物理战略(ESPP)的全球背景下,从欧洲的角度出发了对现场的野心(ESPP)。这种策略对未来半个世纪的愿景构成了科学计划,该计划在最早的时候探索最小的尺度和宇宙的物质和力量时,将继续为问题提供答案,一旦认为是哲学上的猜测,并且有潜力揭示出根本的新现象或从未有过的物质的现象或形式。
如需查看我们全球办事处的完整列表,请访问 www.excelitas.com/locations © 2021 Excelitas Technologies Corp. 保留所有权利。Excelitas 徽标和设计是 Excelitas Technologies Corp 的注册商标。本文中描述的所有其他不属于 Excelitas Technologies 或其子公司的商标均为其各自所有者的财产。Excelitas 保留随时更改本文件的权利,恕不另行通知,并且不对编辑、图片或印刷错误承担责任。
引言CT自1971年首次引入诊断和治疗性医学领域已广泛使用,因为它的快速扫描时间,出色的空间分辨率和广泛的可用性[1]。X射线检测器的CT扫描仪的关键组件对于创建图像至关重要,并且对辐射剂量和图像质量都有重大影响。根据扫描仪模型和供应商的次要实现和设计变化,所有当前的商业CT扫描仪都使用固态探测器,并具有可比的第三代旋转旋转式设计[2]。减弱的X射线梁由CT扫描仪检测器转化为用于计算机处理的数字信号[3]。检测器特征包括效率,稳定性,动态范围,响应时间和余辉[4]。
Inticon为所有类型的金属离子电池提供了一种独特的专利泄漏测试方法,例如锂离子电池,带有新的ELT3000 Plus。ELT3000 Plus可以检测到电解质泄漏至千分尺的水平,比常规压力方法所检测到的小1000倍。依靠ELT3000 Plus来测试所有类型的金属离子电池,例如锂离子,钠离子或铝制电池,包括用于汽车,通信技术,计算机,消费品,电动工具和医疗设备的电池。不管应用领域的不同之处如何,都可以使用电解质泄漏测试检查任何金属离子电池。
在光电探测器技术中,瓶颈被确定为能够检测低强度电磁辐射的新型材料的挑战,并且与综合电路(IC)制造也兼容。在各种金属氧化物半导体中,基于过渡金属氧化物(TMOS)材料更适合于由于其宽带,热稳定性和化学稳定性而导致的紫外线(UV)光电探测器应用。尤其是,三氧化钨(WO 3)已被证明是光子应用中最合适的候选者,包括电动型,光色素和气体传感器设备。在此,以增强性能增强的基于WO 3的光电探测器测试设备的开发已集中。WO 3薄膜以不同的氧局压(P O 2)的形式沉积在SIO 2 /Si底物上,并使用射频(RF)Magnetron溅射技术沉积在溅射压力条件下。在论文的第一部分中,溅射技术(如P o 2)中最重要的生长参数和用于沉积WO 3薄膜的溅射压力是根据光电探测器测试设备的性能进行了优化的。使用各种表征技术(包括X射线衍射(XRD),田间发射扫描电子显微镜(FESEM),X射线光电学光谱(XPS),Ra-Many和Atomic Force Microscopy(AFM),对结构,形态和化学状态进行了分析。Ti/Wo 3/Ti测试磁发炉在382 nm的紫外线照明下显示出0.166 a/w的较高响应性,在非常低的功率密度为0.66 mW/cm 2的情况下。生长的WO 3薄膜用于使用钛电极(TI)电极的Fabiale Metal-Metal-Senemenductor-Metal(MSM)平面结构化光电探测器测试设备,并测量了光电探测器参数,例如光电构成,响应率,响应性,检测性,检测率和外部量子效率(EQE)。为了实现从紫外线到可见区域的多光谱吸收,在论文的第二部分中介绍了新的基于WO 3的异质结构。最初,溅射基于石墨烯的溅射(GR/WO 3)异质结构被制造以研究紫外可见的光电探测器性能。GR/WO 3异质结构在512 nm的可见照明下达到了0.085 A/W的最大响应性。然而,由于石墨烯的某些局限性,WS 2 /WO 3异质结构是通过化学蒸气沉积(CVD)技术将WS 2纳米结构在WO 3层上种植到WO 3层的方法。在这里,使用互插的银(AG)电极制造Ag /WS 2 /WO 3 /Ag光电探测器测试设备。由于WS 2的纳米结构和外部电子迁移率的形成,在紫外线和可见的照明下分别实现了2.94 A/W和2.01 A/W的高响应性。获得的结果测试是WS 2 /WO 3异质结构是宽带紫外可见光电探测器的有前途的候选者,并且可以使用其他TMO和TMD进行相同的策略,以实现光电式Decessices的高性能光电探测器。
本文档中包含的材料按“原样”提供,在未来版本中如有更改,恕不另行通知。此外,在适用法律允许的最大范围内,Agilent 对本手册及其所含任何信息不提供任何明示或暗示的担保,包括但不限于对适销性和特定用途适用性的暗示担保。安捷伦不对因提供、使用或执行本文档或其中包含的任何信息而产生的错误或偶然或间接损失负责。如果安捷伦和用户另有一份单独的书面协议,其中的保修条款涵盖本文档中的材料,且与这些条款相冲突,则以单独协议中的保修条款为准。
