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昆士兰州电子产品行动计划2023-2033
澳大利亚农业部，水和环境部也承认了更好地管理电子产品的生产和消费，其最近发布的针对消费者以及其他电气和电子产品的讨论文件管理。本讨论文件认为，有一个一代的机会，可以采取第一个原则方法来解决电气产品的重复使用和回收障碍。该论文提供了一款国家车辆来咨询，参与和识别急需的解决方案，尤其是在与国家电视和计算机回收计划（NTCRS）和移动算法未涵盖的电子产品管理有关的产品管理有关的情况下。
R22 B.Tech。 EEE教学大纲Jntu Hyderabad R22 M.Tech。数字系统和计算机电子产品... R19 M.Tech欺骗/DECS R22 M.Tech。 VLSI/ VLSI设计/ VLSI系统设计 div> R19 M.Tech。机器设计
1。使用FPGA公开设计方法。2。可以深入了解故障模型。3。了解用于故障检测的测试模式生成技术。4。在连续电路中设计故障诊断。5。使用案例研究在流量的设计中提供理解。单元 - I可编程逻辑设备：可编程逻辑设备，SPLD，PAL设备，PLA设备，GAL设备，CPLD架构，FPGAS-FPGA技术，体系结构，Virtex CLB和Slice，FPGA编程技术，XC2000，XC2000，XC3000，ACT1 Act1 anderction Actient1 Actrect1，Act1 andertion。[TEXTBOOK-1] UNIT- II Analysis and derivation of clocked sequential circuits with state graphs and tables: A sequential parity checker, Analysis by signal tracing and timing charts-state tables and graphs-general models for sequential circuits, Design of a sequence detector, More Complex design problems, Guidelines for construction of state graphs, serial data conversion, Alphanumeric state graph notation.需要和设计策略，用于多盘顺序电路。[教科书2]单元-III顺序电路设计：顺序电路设计的设计步骤，示例，代码转换器，迭代循环设计，比较器的设计，控制器（FSM） - 标准，同步，FSM问题，FSM问题，使用FPGAS的序列电路共享，使用FPGAS的顺序设计，模拟和测试的序列循环设计。[Techtbook-3＆Ref.1][教科书2]单元 - IV故障建模和测试模式生成：逻辑故障模型，故障检测和冗余，故障等效性和故障位置，故障优势，单个卡在故障模型，多个卡在故障模型上，桥接故障模型。通过常规方法，路径敏化技术，布尔差异方法，Kohavi算法，测试算法-D算法，随机测试，过渡计数测试，签名分析和测试桥梁的断层对组合回路的故障诊断。
基于银金微薄片导体的丝网印刷耐腐蚀、长期稳定的可拉伸电子产品
摘要：丝网印刷等高通量生产方法可以将可拉伸电子产品从实验室带入市场。由于其良好的性价比，大多数用于丝网印刷的可拉伸导体油墨都是基于银纳米颗粒或薄片的，但银容易失去光泽和腐蚀，从而限制了此类导体的稳定性。在这里，我们报告了一种经济高效且可扩展的方法来解决这个问题，即开发基于银薄片的丝网印刷油墨，银薄片上涂有一层薄薄的金。印刷的可拉伸 AgAu 导体的电导率达到 8500 S cm − 1，在高达 250% 的应变下仍保持导电性，表现出优异的腐蚀和失去光泽稳定性，并用于演示可穿戴 LED 和 NFC 电路。所报告的方法对智能服装很有吸引力，因为这种设备在各种环境中都有望长期发挥作用。关键词：可拉伸电子产品、软电子产品、印刷电子产品、金、银薄片、腐蚀、稳定性、NFC ■ 介绍
LEADINSKY - Leonardo - 电子产品
LeadInSky 是 Leonardo 在空中交通管制和管理市场长期经验的最新重要里程碑。Leonardo 公司已在该领域运营数十年，并在全球 150 个国家/地区提供 ATM 传感器和系统。LeadInSky 架构是模块化和灵活的，因此允许针对任何场景进行特定设计：从小型机场或进近控制单元到具有多个连接远程塔的超大型全国性 ATM 系统。
面向故障的加速测试 (FOAT) 及其在确保电子产品可靠性方面的作用：回顾
大约十年前，人们提出了一种高度集中且极具成本效益的面向故障的加速测试 (FOAT)，作为新颖的概率可靠性设计 (PDfR) 概念的实验基础，旨在在新的电子封装技术的设计阶段以及必须具有高运行可靠性（例如，航空航天、军事或长途通信应用所需的可靠性）时进行。另一方面，几乎每个 IC 产品在制造阶段都会定期进行的老化测试 (BIT) 也是 FOAT 类型：其目的是在将“健康”产品（即，通过了 BIT 的产品）运送给客户之前，去除可靠性低的“异常产品”，从而消除浴盆曲线 (BTC) 的早期死亡率部分 (IMP)。进行 FOAT 时，应采用具有物理意义的本构方程，例如多参数 Boltzmann-Arrhenius-Zhurkov (BAZ) 模型，根据 FOAT 数据预测产品在现场的故障概率和相应的使用寿命，并根据最近证明的 BIT 数据预测所施加应力的适当水平和持续时间，以及“异常”的（当然很低）活化能。本综述使用分析（“数学”）预测模型解决了这两种类型的 FOAT。通过数值示例说明了一般概念。结论是，预测模型应始终在实际测试之前和期间进行，并且分析模型应始终作为计算机模拟的补充。未来的工作应侧重于对所得结果和建议进行实验验证。
微电子产品和服务数据表
位于加利福尼亚州雷东多海滩的诺斯罗普·格鲁曼空间系统铸造厂加工异质结双极晶体管和高电子迁移率晶体管单片微波和毫米波集成电路。该铸造厂专注于微型、模块化、高速、低功耗和低温的产品。
Suntronic®材料印刷电子产品| juhl
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柔性电子产品的聚合物
Heeger，MacDiarmid和Shirakawa等人发现导电聚乙炔。在1977年开设了一个新时代，这使他们因“导电聚合物的发现和开发”而获得了2000年诺贝尔化学奖。[1]在1987年，Tang和Vanslyke报告了砂含量的电致发光装置结构，代表了有机电子领域的里程碑。[2]在1990年，朋友，福尔摩斯，布拉德利及其来自剑桥大学的梅尔维尔实验室和梅尔维尔实验室的同事开发了其基于聚合物的电动发光设备，该设备被广泛认为是打开塑料电子设备的门。[3]从那时起，基于导电聚合物的有机发光二极管（OLED），有机光伏（OPV），有机场效应晶体效应（OFET）和有机固态激光器（OSSL）的技术一直非常迅速地推动。随着大量信息电子设备的灵活性，灵活的电子设备已成为现实。在过去的十年中，灵活的电子研究经历了快速增长，这也是由便携式和可穿戴仪器的功能驱动的。灵活的电子设备是一种猖ramp的技术发明，可重新使用软电介电和导电材料，它由于其出色的光电特性，例如电导率，opti-cal吸光度和载体和载体运输以及有吸引力的机械性能，包括灵活性，不良能力和溶液的制造，因此鼓励使用聚合物。核心组件的柔性设计在开发柔性电子设备方面起着至关重要的作用。灵活的电子设备被认为是基于开拓和跨学科研究的破坏性技术，它可以破坏基于经典硅电子产品的内在局限性。这可以为Ingration设计，能源革命，医疗技术变化开放创新的前景，从而为未来通过自我依赖的创新提供了重要的机会。柔性电子产品的优越性首先归因于对电子元素的性能的最终追求。灵活电子设备的关注问题通常是最佳光电特性和设备灵活性之间的权衡。出于织物的目的 - 高性能有机柔性设备，已经探索了不同的方法，主要集中在以下四个方面：a）内在灵活的有机成分（半导体，电极，绝缘体和底座），b）设备工程，c）c） - c）构造的构造技术和d）。具有内在灵活性的聚体用于构建灵活性
R18 B.Tech。 EEE教学大纲Jntu Hyderabad 1 R22 B.Tech。 EEE教学大纲Jntu Hyderabad R22 M.Tech。数字系统和计算机电子产品... R19 M.Tech欺骗/DECS R22 M.Tech。 VLSI/ VLSI设计/ VLSI系统设计 div> R19 M.Tech。机器设计
1。使用FPGA公开设计方法。2。可以深入了解故障模型。3。了解用于故障检测的测试模式生成技术。4。在连续电路中设计故障诊断。5。使用案例研究在流量的设计中提供理解。单元I可编程逻辑设备：可编程逻辑设备，SPLD，PAL设备，PLA设备，GAL设备，CPLD-Archittuction，FPGAS-FPGA技术，体系结构，Virtex CLB和Slice，FPGA编程技术，XC2000，XC2000，XC3000，Act 3 Actient Act1 anderct1 anderct1 anderct1 anderct1 anderct1 anderct1[TEXTBOOK-1] UNIT-II Analysis and derivation of clocked sequential circuits with state graphs and tables: A sequential parity checker, Analysis by signal tracing and timing charts-state tables and graphs-general models for sequential circuits, Design of a sequence detector, More Complex design problems, Guidelines for construction of state graphs, serial data conversion, Alphanumeric state graph notation.需要和设计多锁顺序电路的策略。[TEXTBOOK-2] UNIT-III Sequential circuit Design: Design procedure for sequential circuits-design example, Code converter, Design of Iterative circuits, Design of a comparator, Controller (FSM) – Metastability, Synchronozation, FSM Issues, Pipelining resources sharing, Sequential circuit design using FPGAs, Simulation and testing of Sequential circuits, Overview of computer Aided Design.[Ref.3][教科书2]单元IV故障建模和测试模式生成：逻辑故障模型，故障检测和冗余，故障等效性和故障位置，故障优势，单个卡在故障模型，多个卡在故障模型上，桥接故障模型。通过常规方法，路径敏化技术，布尔差异方法，Kohavi算法，测试算法-D算法，随机测试，过渡计数测试，签名分析和测试桥梁的断层对组合回路的故障诊断。[教科书-3＆Ref.1]单元 - 顺序电路中的v故障诊断：电路测试方法，过渡检查方法，状态识别和故障检测实验，机器识别，故障检测实验的设计。