机构名称：
¥ 1.0
第 33 届 IEEE 微电子设计与测试研讨会（MDTS，前身为 NATW）为学术界和工业界提供了一个年度全球论坛。大学教师、学生研究员和行业工程师讨论微电子领域的最新进展，分享他们对现代微电子技术的看法，并促进学术界与工业界的合作。为期三天的研讨会以小芯片和硬件安全为主题，包括主题演讲、受邀演讲、小组讨论和教程。小芯片将大型芯片设计分解为更小的、理想情况下可重复使用的集成电路，而通用小芯片互连快递 (UCIe) 标准解决了在封装内连接小芯片的挑战。芯片设计的硬件安全涵盖广泛的问题，从防止逆向工程到阻止接管和数据盗窃或操纵。
2024 IEEE 微电子设计与测试研讨会...
主要关键词
相关文件推荐
