机构名称：
¥ 1.0
006，结合 TOF-SIMS 和原位 AFM 表征二维过渡金属二硫化物层 Rita Tilmann 1 , Stefan Heiserer 2 , Valentina Spampinato 1,3 , Yuanyuan Shi 1,4 , Jill Serron 1 , Albert Minj 1 , Benjamin Groven 1 , Georg S. Duesberg 2 , Thomas Hantschel 1 , Paul AW van der Heide 1 和 Alexis Franquet 1 1 IMEC, Kapeldreef 75, 3001 Leuven, 比利时 2 慕尼黑联邦国防军大学和集成传感器系统中心 (SENS), 物理研究所, EIT2, Neubiberg, 德国 3 卡塔尼亚大学, Dipartimento di Scienze Chimiche, Viale A. Doria 6,意大利卡塔尼亚 4 学校中国科学技术大学微电子学院，合肥，中国
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