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适当选择原子力显微镜（AFM）的探针对于获得高质量的样品表面图像很重要。通常，AFM探针由芯片芯片，悬臂（Si或Si 3 N 4）组成，悬挂在芯片上，尖端（Si或Si 3 N 4）连接在悬臂末端（图1）。AFM探针有多种材料，形状（几何），刚度（弹簧常数），共振频率和Q因子。探针选择取决于材料和应用。对于非接触模式，我们建议您使用具有较高共振频率（〜300 kHz）和较高弹簧常数（〜20 N/m）的探针。原因是，当在环境条件下在非接触模式下扫描时，尖端经常捕获水分，在样品上产生受污染的层。当使用具有低弹簧常数的悬臂时，这种情况更常见。
AFM探测选择指南
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