机构名称：
¥ 3.0
更新脚注 12/ 并添加脚注 25/。将脚注 12/ 应用于筛选测试 #9、#11、#13（S 级）设备。将脚注 25/ 应用于（S 级）设备的筛选测试 #9、#11、#13 和 #15。•12/ 对于 Y 级和 P 级（S 级）微电路设备，应记录老化前和老化后的临时电气测量值，并对 100% 的设备进行增量计算。如果获得合格活动部门的批准，可以使用等效统计技术代替增量测量和计算。具体增量参数应按照适用设备规范中的定义。•25/ 对于 V 级、Y 级和 P 级（S 级）微电路设备，应读取并记录 100% 设备上所有指定的老化前和老化后临时测试的电气参数。如果经合格活动批准，则应在 SMD 中标识无法读取和记录的指定电气参数。代替 100% 读取和记录数据收集，可以执行测试，包括自动移除由统计技术确定的超出产品正常电气分布范围的单元（异常设备），如果经合格活动批准。
MIL-PRF-38534-修订版 L 变更摘要
主要关键词
相关文件推荐
