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用于 LIDT 测量的光栅扫描应用每年都越来越受欢迎。当光学元件的零星缺陷密度较低时，这是一种有用的程序（在这种情况下，其他测试协议往往会高估 LIDT）。此外，光栅扫描通常用于认证大孔径光学器件，以及需要了解最坏情况时。现在，Lidaris 可以从标准光栅扫描测试中提供更多信息。引入一项新功能 - 激光诱导表面物体的统计数据与激光辐照水平的关系。
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