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扫描光电流显微镜传统上是使用聚焦光束进行的。1 - 4在这项技术的现代变体中，事件光的聚焦是通过尖锐的金属尖端实现的，如图1。这样的尖端充当光天线，将局部增强的近场增强到自由空间辐射。在实验中，扫描尖端，并使用位于样品外围的某个位置的电动触点来测量样品中产生的直流光电流。下面，我们将此技术称为扫描近场光电流显微镜或光电流纳米镜检查。也可以利用参与此类测量的仪器进行散射型扫描近场光学显微镜（S-SNOM）。在s-snom中，一个人检测到尖端而不是光电流的光片。实际上，一起执行S-SNOM和光电流纳米镜检查，提供了有关系统的互补信息。这种技术的组合已成功地应用于探针石墨烯和其他二维（2D）材料5 - 9的空间分辨率为≏20nm，这比衍射受限的传统方法好。最近的光电流纳米镜检查实验显示出区别的光谱共振和周期性干扰模式
在光电流纳米镜检查中等离子体和极化效应的模型
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