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在 TI 的 29 年职业生涯中，Robert Baumann 发现 10B 与低能宇宙中子的反应是数字电子产品的主要可靠性风险，并制定了缓解方案，将产品故障率降低了近十倍。从 1993 年到 1998 年，他参与了 TI 在日本的 Mihomura Fab 和 Tsukuba 研发中心的晶体管和辐射效应可靠性以及高级故障分析。回到达拉斯后，他领导了先进技术可靠性小组的辐射效应项目。他共同领导了 SIA 的专家小组，该小组成功地与美国政府进行了谈判，修改了对先进商业技术构成严重出口限制风险的 ITAR 出口管制法。Baumann 是 JEDEC（JESD89、89A）行业标准的主要作者之一，该标准针对陆地环境辐射特性，并因此荣获 JEDEC 主席奖。2012 年，他转入高可靠性产品组，专注于改进辐射效应的特性、建模和报告。Baumann 当选为 TI 和 IEEE 院士。他合著并发表了 90 多篇论文和演讲、两本书的章节，并拥有 15 项美国专利。Baumann 于 2018 年从 TI 退休。
电子辐射手册 (Rev. A) - 德州仪器
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