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对硅检测器的VUV优化涂料技术的测试
• Complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS) image sensors and charge coupled devices (CCD) • Image sensor design and customization • Sensor characterization and calibration • Radiation damage effects in space • Interaction of radiation with matter, shielding • Semiconductor physics and device simulations • Cryogenics and vacuum • Electronics
乙炔VUV吸收横截面的高温测量和适用于温暖系外行星大气的应用
上下文。大多数观察到的系外行星的平衡温度高（T EQ> 500 K）。了解其大气的化学和解释其观察结果需要使用包括光化学在内的化学动力学模型。这些模型中使用的真空紫外线（VUV）吸收横截面的热依赖性在高温下是鲜为人知的，从而导致不确定性在产生的丰度谱。目标。我们工作的目的是通过实验研究外部大气的VUV吸收横截面的热依赖性，并提供准确的数据以在大气模型中使用。这项研究的重点是乙炔（C 2 H 2）。方法。我们使用VUV光谱和同步辐射测量了七个温度下的C 2 H 2的吸收横截面，在115-230 nm光谱结构域中记录的296至773 K。这些数据在我们的一维热化学模型中使用，以评估它们对通用热木星样系外行星气氛的预测组成的影响。结果。C 2 H 2的绝对吸收横截面随温度而增加。这种增长从115 nm相对恒定，并从185 nm急剧上升到230 nm。这种变化还影响了其他副产品（例如甲烷（CH 4）和乙烯（C 2 H 4）的丰富曲线。结论。我们介绍了在高温下C 2 H 2的VUV吸收横截面的第一个实验测量。使用该模型计算的C 2 H 2的丰度曲线显示出略有变化，当使用C 2 H 2吸收横截面与296 K相比，在773 K时测量的5×10-5 bar接近40％，与296 K相比。这是由1530 nM的吸收率较高的230 nM，该吸收率在296 K中。光谱范围。需要对其他主要物种进行类似的研究，以提高我们对系外行星气氛的理解。
vuv-vase
椭圆法是一种非接触，无损的光学表征技术，可在通过样品反射或传播反射或传输后测量光的偏振变化。样品引起的极化变化通常报告为各向同性样品的ψ和∆。但是，广义和穆勒矩阵椭圆法不限于测量膜厚度和光学常数是主要兴趣的各向同性样品。通过测量Mueller矩阵，我们可以表征最先进的材料。一些例子包括任意各向异性，晶体底物和膜，在卷到滚动应用中发现的拉伸聚合物箔中的双折射，AR/VR设备中的极化过滤器，整个液晶细胞中的极化过滤器，整个液晶细胞，方向的纳米结构，方向的纳米结构，变质，或定期3D材料。Mueller矩阵包含所有必需的光学信息，包括强度传播，由于线性和圆形双发性，线性和圆形二色性以及相位迟缓而引起的交叉极化。本质上，Mueller矩阵将描述任何可能的光学效果。
vuv和X射线自由电子激光fel_2 sase，高 - ...
辐射脉冲宽度（电子束）是单个光谱尖峰宽度的傅立叶缀合物。在时间域中的总体电子束（D T）越长，能量（频率）域中的光谱尖峰宽度（DE）越窄。
使用 VUV 脉冲的时间分辨角分辨光电子能谱 (TR-ARPES)
最初，光电子能谱是使用原子灯作为单能 VUV 光子源进行的，但激光的出现大大提高了这种技术的分析能力。具体而言，将激光源聚焦到小点的能力使得能够分析发射电子相对于样品的角轨迹（即参考晶体材料中的晶格矢量）。这通常通过相对于电子能量分析仪逐步旋转样品台来完成。角分辨光电子能谱 (ARPES) 能够详细测量重要信息，例如费米面的形状，它是倒易晶胞矢量 (kx ， ky ) 的函数。一些研究人员还采用一种称为莫特偏振仪的设备，主要测量电子的自旋。
ITO 涂层镀铝聚酰亚胺薄膜在 VUV 和低能质子辐射下的热光性能退化
I. 引言 经认证可用于太空的材料具有特殊性能（例如重量轻、抗电离辐射、多功能能力、自愈能力和出色的热稳定性），使得它们可以在电离辐射、极端温度、微陨石和深真空等环境中生存。许多太空应用需要在材料表面涂上涂层以保护材料或改变其性质。用于航天器的材料及其涂层都必须易于使用、排气性低且在太空环境中稳定。然而，尽管具有独特的特性，但太空对于航天器上使用的材料（尤其是其外表面）来说是一个恶劣的环境。由于紫外线和粒子损伤等不同的外部因素，大多数这些材料都会出现一定程度的退化。航天器设计的关键方面之一是热控制系统，其功能是将航天器系统的温度保持在其工作范围内。遥远行星际空间中航天器某一区域的绝对温度
用于碘化物分析的真空紫外离子源 (VUV-IS) ...
Liao, J.、Sihler, H.、Huey, LG、Neuman, JA、Tanner, DJ、Friess, U.、Platt, U.、Flocke, FM、Orlando, JJ、Shepson, PB、Beine, HJ、Weinheimer, AJ、Sjostedt, SJ、Nowak, JB、Knapp, DJ、Staebler, RM、Zheng, W.、Sander, R.、Hall, SR 和 Ullmann, K.：通过化学电离质谱法和长程差分光学吸收光谱法对北极 BrO 测量结果进行比较，《地球物理研究杂志-大气》，116，Artn D00r02 325
