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最初,光电子能谱是使用原子灯作为单能 VUV 光子源进行的,但激光的出现大大提高了这种技术的分析能力。具体而言,将激光源聚焦到小点的能力使得能够分析发射电子相对于样品的角轨迹(即参考晶体材料中的晶格矢量)。这通常通过相对于电子能量分析仪逐步旋转样品台来完成。角分辨光电子能谱 (ARPES) 能够详细测量重要信息,例如费米面的形状,它是倒易晶胞矢量 (kx , ky ) 的函数。一些研究人员还采用一种称为莫特偏振仪的设备,主要测量电子的自旋。
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