背景:动物和细胞中活性氧 (ROS) 的产生通常是由于暴露于低强度因素(包括磁场)所致。关于氧化应激的引发以及 ROS 和自由基在磁场影响中的作用的讨论大多集中在自由基诱导的 DNA 损伤上。方法:用分光光度法测定最终溶液中的 DNA 浓度。通过聚合酶链式反应对 8-氧鸟嘌呤 DNA 糖基化酶 (hOGG1) 基因的多态性变体 rs1052133 进行分型。采用酶联免疫吸附测定法测定 DNA 中的 8-氧鸟嘌呤水平。为了处理暴露于交变磁场的样品,作者开发了一种在交变磁场中自动研究生物流体的装置。用分光光度法测定 DNA 水溶液中过氧化氢的含量。结果:实验确定,在低频磁场作用下,水介质中过氧化氢的浓度增加3至5倍,会降低基因组材料对氧化修饰的抵抗力以及DNA中8-氧鸟嘌呤的积累。提出了低频磁场对核酸和蛋白质水溶液作用机理的模型,该模型满足水介质中活性氧物质转化的化学振荡器模型。该模型说明了DNA水溶液中发生的过程的振荡性质,并可以预测生物聚合物水溶液中过氧化氢浓度的变化,这取决于作用的低强度磁场的频率。结论:低强度磁场对生物系统影响的机制中关键因素是化学振荡器水环境中ROS的生成,其中物理和化学过程(电子转移,自由基的衰变和加成反应,自旋磁诱导的转化,最长寿命形式过氧化氢的合成和衰变)的竞争受磁场控制。
图S2:温度对PAB-AGOG活性酶测定的影响在37、47和57°C下进行,并使用57-MER SSGO或DSGO或DSGO:C作为底物进行了分析(图S1)。(a)在单转弯条件下(20 nm底物/200 nm PAB-AGOG),GO-DNA糖基酶/AP裂解酶活性。上图:动力学曲线 - 对于每种测定,最终的DNA裂解产物被绘制为三个独立实验的孵育时间的函数。如材料和方法中所述,拟合了每种动力学的实验点。下图:从上图中提取的单转换速率常数(K obs)作为SSGO和DSGO的温度的函数,如所示。(b)GO-DNA糖基酶和GO-DNA糖基酶/AP裂解酶的比较分析是温度的函数。孵育时间分别为37、47和57°C的SSGO,分别为蓝色,绿色和红色的DSGO分别为2、1和0,5分钟。深色和浅色条分别用于GO-DNA糖基酶和GO-DNA糖基化酶/AP裂解酶活性。每个条对应于三个独立实验获得的平均值±SD。
