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World File Search System可靠性
AD-A223 647 可靠性分析/评估... - DTIC
MIL-HDBK-217E 微电路部分中的故障率预测模型，以确定它们是否适用于最先进的设备；(2) 根据需要修改或推断现有模型以反映当前和未来
非电子零件可靠性数据 1991 - MWFTR
对于特定设备，存在大量的可靠性经验。它包含两种计算组件级故障率的基本方法，即“零件应力法和零件计数法”。零件计数法只需要有限的信息（例如组件类型、复杂性和零件质量）即可计算零件故障率。手册的零件计数部分是通过将更复杂的零件应力法的模型因子分配给通常预期的略微保守的估计值而得出的。所有特定的默认值均在手册的附录 A 中提供。零件应力法需要更多信息（例如外壳或结温以及电气工作和额定条件）来执行故障率计算。在手册制定之前，每个承包商都有自己独特的数据集，必须完全了解其来源，然后才能进行有意义的设计比较。
单发飞机 FADEC 可靠性分析
航空燃气涡轮发动机的发展对发动机控制系统提出了越来越高的要求，以提高推力并改善燃油消耗。这些要求导致了电子控制系统的广泛使用。这种系统的早期版本采用了监控概念，于 20 世纪 70 年代推出，目前在运行的许多飞机上都能找到这种系统。目前运行的 JAS 版本采用了这种概念。然而，监控概念并不能完全满足大多数现代发动机的要求，这导致了 20 世纪 80 年代全权数字电子控制 (FADEC) 概念的出现。 FADEC 系统控制发动机所需的所有功能，并引入了许多改进，例如：(i) 可以实施现代控制理论中的复杂技术，这些技术既可以提高性能，又可以提高可靠性，(ii) 由于有限使用流体力学而减轻重量，以及 (iii) 可以实施内置维护支持，从而降低维护成本并提高系统可靠性。正如这些示例所示，FADEC 支持提高性能和可靠性并降低总成本的努力。FADEC 系统目前在许多飞机上运行，例如：新型军用飞机 F-18E/F 和欧洲战斗机以及民用飞机空客 320、321 和波音 777。
国际可靠性入门和... - DTIC
估计每次收集这些信息的公共报告负担超过 1 小时，包括审查说明、搜索现有数据源、收集和维护所需数据以及完成和审查信息收集的时间。请发送有关此负担估计或此信息收集的任何其他方面的评论。包括减轻此负担的建议，发送至 Woshington 总部服务部。信息运营和报告理事会，1215 Jefferson Davis Highwoy。1204 套房。弗吉尼亚州阿灵顿 22202-4302。并寄至管理办公室预算、文书工作减少项目 10704-0188），华盛顿特区 20503。1.仅供机构使用（留空）2.报告日期 1997 年 3 月
CHIMERA（CHARM高能离子微电子可靠性保证）现状与展望
Cern Beam物理学：Matthew Fraser，Eliott Johnson，Nikolaos Charitonidis，Rebecca Taylor Beam操作：Marc Delrieux，Linac3和Leir Teams Beam仪器：Federico Roncarolo，Inaki Ortega Ruiz，Jocelyn Tan，Jocelyn tan，Jocelly brreth，Aboub eboub eboun damhmun NOLI CHAM和IRRAD：Salvatore Danzeca，Federico Ravotti辐射保护：Robert Froeschl，Angelo Infantino Fluka：Francesco Cerutti，Luigi Esposito知识转移：Enrico Chesta R2E：Ruben Garcia Alia，Matteo Brucoli，Rudy ferrea and gire and giuse and n n and Alia Emriskova，Mario Sacristan，Daniel Prelipcean集团和部门管理：Brennan Goddard，Simone Gilardoni，Markus Brugger
照明、可靠性测试、自动驾驶汽车 | DIGIFED
• 如何将 Digifed 在照明、可靠性测试和自动驾驶汽车方面的能力用作项目的一部分，同时利用 DigiFed 合作伙伴来最大化您的提案分数：卓越、影响力、实施质量（45 分钟）
空间应用 MEMS 可靠性保证指南
可靠性模型的应用 ................................................................ 16 故障 .............................................................. 18 .............................................................. 9 附加阅读材料 ..............................................................................................
可靠性和可维护性 (RAM) 培训
认识到需要帮助项目经理更好地理解安全和保障技术，Gary G. Kelm、Frank J. Barber 和 Frank J. Barina 编写了附录 B。Kam L. Wong 使用 Charles Ryerson 和 Irwin Quart 提供的信息和概念编写了我们之前的工作簿 RP-1253 的第一章；感谢 North-Holland, Inc. 允许重印部分图表和文本。感谢 Fredrick D. Gregory、Michael A. Greenfield 博士、Peter Rutledge 博士、Vernon W. Wessel 和 Frank Robinson, Jr. 的鼓励和支持，让专业开发团队为我们的 NASA 安全培训课程 017 开发这本新工作簿。Henry A. Malec 已经去世，我们将怀念他。人们将永远记住他为推动可靠性协会所做的努力。他编写了本书原版的第 7、10 和 11 章。Martha Wetherholt 和 Tom Ziemianski 编写了第 8 章和第 9 章。感谢数字设备公司的数字出版社提供第 7 章中的软件评估材料。Vincent R. LaUi，现任美国宇航局格伦研究中心（俄亥俄州克利夫兰）风险管理顾问，编写了一些新章节和附录 C，添加了一些问题，并编辑和负责本手册修订版的最终 NASA 印刷。
微电路器件可靠性数字详细...
信息以汇总格式呈现，而操作（现场经验、可靠性演示和设备检查）和寿命测试数据则以详细格式呈现。数字详细数据出版物的数据由可靠性分析中心从政府和行业报告中收集、提炼和缩减，以便提供客观信息以供一般使用。
故障模式和面向可靠性的系统设计...
未来电动飞机和混合动力飞机对电力的需求不断增加，机载系统的高功率电力转换研究工作一直在进行中。航空系统的安全关键性质使航空电力转换器的可靠性成为关键的设计考虑因素。本文研究了电力电子系统的可靠性，重点研究了关键子部件的寿命限制因素。为起动发电机驱动转换器建模了不同系统电压水平下的电压源功率转换器的可靠性。一个关键的观察结果是，Si IGBT 器件足以满足低压和中压系统（高达 540 V）的可靠性要求。在更高的系统电压（高于 540 V）下，使用 Si IGBT 进行设计需要多级拓扑。在恒定功率曲线驱动中，转换器直流链路中薄膜电容器的磨损故障对系统可靠性的影响最小。在没有增强电压降额的多级拓扑中，系统可靠性主要受宇宙射线引起的随机故障影响。仿真结果表明，在高系统电压 (810 V) 下，带有 SiC mosfet 的 2 L 拓扑在可靠性方面优于基于 Si IGBT 的 3 L 拓扑。