XiaoMi-AI文件搜索系统
World File Search System无损
基于 1T2C FeCAP 的原位按位 X(N)OR 逻辑运算，具有两步写回电路，用于加速内存计算
摘要：铁电电容器（FeCAP）具有工艺兼容性高、可靠性高、超低编程电流和操作速度快等特点，是传统易失性和非易失性存储器的良好替代品，在存储、计算和内存逻辑领域也具有巨大的潜力。尽管如此，在 FeCAP 器件中实现逻辑和存储的有效方法仍然缺乏。本研究提出了一种基于电荷共享功能的 1T2C FeCAP 原位按位 X(N)OR 逻辑。首先，利用 1T2C 结构和两步写回电路，以比先前工作更低的复杂度实现了无损读取。其次，在 X(N)OR 操作期间采用了双线激活的方法。验证结果表明，提出的基于 1T2C FeCAP 的按位逻辑运算的速度、面积和功耗都有显著提高。
电力规划模型中储能的表达
本文探讨了储能系统在电力部门容量规划模型中的表示方法。随着储能技术（尤其是电池）和互补可变可再生能源技术的成本下降，将储能系统纳入此类长期系统模型变得越来越重要。为了正确评估储能技术的价值，需要表示时间段之间的联系，从而打破传统的时间聚合策略，大大缩短计算时间。我们评估了解决这一问题的方法，强调了共同的底层结构、无损聚合的条件以及在相关地理尺度上聚合的挑战。然后，我们研究了建模问题的解决方案，包括一种分解方案，以避免在可并行的计算成本下进行时间聚合。这些示例构成了问题的各个方面，这些方面已为运筹学界做出贡献。
shotcut用户指南目录
编解码器包括两个组件，一个编码器和一个解码器，因此名称。视频编解码器的示例是H.264，H.265，VP9等…编解码器使用各种技术来压缩数据。压缩可以是无损的，在这种情况下，解码数据将产生与编码或有损的数据完全相同的数据，在这种情况下，解码数据的数据将丢失一些编码的数据。压缩越高，丢失的数据越多。通常，使用无损编解码器的使用会导致文件比有损失的文件更大。某些编解码器在制作等效质量的视频所需的数据量中比其他编解码器更有效。H.265以同等质量生产的文件小于H.264；但是，执行此操作所需的更复杂的方法通常意味着它们需要更长的时间来编码和解码视频。
使用电反射法诊断锂离子电池极耳焊接
摘要 —本文研究了使用电反射法作为一种无损检测技术来监测并联电池组配置中电池极耳焊接的健康状况。开发了由圆柱形锂离子电池组成的 3D 模型，这些电池通过铜焊接在每个末端通过极耳连接。进行了电流表面分布分析，以了解反射信号的传播并选择最佳设置以提高反射灵敏度。然后，创建了几个严重程度和位置各异的缺陷模型来模拟焊接层中材料的逐渐损失。这项工作证明了基于反射仪的系统能够检测并联电池组配置中的焊接退化，据我们所知，这在文献中从未做过。索引词 —电反射法；锂离子电池极耳焊接；缺陷诊断
2 级液体渗透和磁粉检测
培训课程大纲已以两份 TECDOC 出版物的形式公布。第一份是 IAEA-TECDOC-407，其中包含五种基本方法的大纲，即液体渗透检测、磁粉检测、涡流检测、射线检测和超声波检测，第二份经修订的大纲是 IAEA-TECDOC-628，其中包括目视检测和泄漏检测等附加方法。IAEA-TECDOC-628 以及包括 ISO 9712 在内的大多数关于无损检测人员培训和认证的国际标准都定义了三个能力等级，即 1 级、2 级和 3 级。其中，1 级最低，3 级最高。中级 2 级被认为最适合那些除其他职责外，还需要独立进行相关无损检测方法的实际检测；制定适用于各种问题的无损检测程序；编写书面说明；按照相关标准和规范做出接受/拒绝决定；能够培训和监督其下属的一级员工，并组织和报告无损检测结果。
无损检测用超声波传感器
无损检测性能要求的演变是由质量要求的发展决定的。因此，这些技术的发展历史 [1] 以检查目标的演变为标志：20 世纪 60 年代的“零缺陷”目标在 20 世纪 70 年代被检测“关键缺陷”的目标所取代，随后在 20 世纪 70 年代至 80 年代又被提高缺陷可检测性的目标所取代。应该指出的是，无损检测 (NDE) 一词就是为这种缺陷表征的演变而发展起来的。20 世纪 80 年代至 90 年代，目标是对易老化的系统和结构进行持续和改进的无损检测。20 世纪 90 年代至 21 世纪，出现了对大面积检查的需求，需要通过结构健康监测 (SHM) 持续监测某些结构的健康状况，同时降低检查和其他评估的成本。
微波表面电阻的综述，高强度...
超导是某些材料在冷却到临界温度以下时发生的一种现象，导致电阻完全消失 [1]。这种特殊特性使材料能够无损传输电力，从而产生了各种突破性的应用，如高速磁悬浮列车和高灵敏度磁共振成像设备 [2,3]。传统超导体被称为低温超导体 (LTS)，最早是在 20 世纪初发现的，可在极低温度下工作，通常接近绝对零度。20 世纪后期高温超导体 (HTS) 的发现引起了科学家们的极大热情和猜测 [4]。与传统材料相比，HTS 材料在更高的温度下表现出超导特性，甚至超过了液氮的沸点。这为在更方便、更经济的冷却条件下实际使用提供了令人兴奋的可能性
2024-03-12演示数据集修订
电池技术对于全球电气化工作越来越重要。但是，电池对可能引起可靠性或安全性问题的小型制造变化非常敏感。电池质量控制的一项重要技术是计算机断层扫描（CT）扫描，该扫描被广泛用于各种临床和工业应用中的无损3D检查。从历史上看，CT扫描对大批量制造的实用性受到其低吞吐量以及处理其大型文件大小的困难的限制。在这项工作中，我们提供了一千多个CT扫描的数据集，该数据集的商业可用电池。数据集跨越各种化学物质（锂离子和钠离子）以及各种电池形式（圆柱形，小袋和棱镜）。我们总共评估了七种不同的电池类型。可以通过此数据集观察到制造可变性和电池缺陷的存在。该数据集可能对从事电池技术，计算机视觉或两者兼而有之的科学家和工程师感兴趣。
2 级液体渗透和磁粉检测
培训课程的教学大纲已以两份 TECDOC 出版物的形式公布。第一份是 IAEA-TECDOC-407，其中包含五种基本方法的教学大纲，即液体渗透检测、磁粉检测、涡流检测、射线检测和超声波检测，第二份经修订的教学大纲是 IAEA-TECDOC-628，其中包括目视检测和泄漏检测等附加方法。IAEA-TECDOC-628 以及包括 ISO 9712 在内的大多数关于无损检测人员培训和认证的国际标准都定义了三个能力等级，即 1 级、2 级和 3 级。其中，1 级最低，3 级最高。中级 2 级被认为最适合那些除其他职责外，还需要独立进行相关无损检测方法的实际检测；制定适用于各种问题的无损检测程序；编写书面说明；根据相关标准和规范做出接受/拒绝决定的人员；能够培训和监督其下属的一级员工，并组织和报告无损检测结果。
半导体微电子学和纳米电子学项目
NIST 的前身国家标准局 (NBS) 于 20 世纪 50 年代中期开始致力于满足新兴半导体行业的测量需求。虽然这项工作最初侧重于其他政府机构的晶体管应用，但在 20 世纪 60 年代初，该局向美国材料与试验协会 (ASTM) 和美国电子工业协会 (EIA) 寻求行业指导。ASTM 的首要任务是准确测量硅的电阻率。NBS 的科学家开发了一种实用的无损测量方法，其精度比以前的破坏性方法高出 10 倍。该方法是五种工业标准和广泛用于校准行业测量仪器的电阻率标准参考材料的基础。第二个项目由 EIA 专家小组推荐，旨在解决晶体管的“二次击穿”故障机理。该项目的成果得到了广泛应用，包括解决导致航天飞机发射延迟的主发动机控制问题。