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无损检测性能要求的演变是由质量要求的发展决定的。因此，这些技术的发展历史 [1] 以检查目标的演变为标志：20 世纪 60 年代的“零缺陷”目标在 20 世纪 70 年代被检测“关键缺陷”的目标所取代，随后在 20 世纪 70 年代至 80 年代又被提高缺陷可检测性的目标所取代。应该指出的是，无损检测 (NDE) 一词就是为这种缺陷表征的演变而发展起来的。20 世纪 80 年代至 90 年代，目标是对易老化的系统和结构进行持续和改进的无损检测。20 世纪 90 年代至 21 世纪，出现了对大面积检查的需求，需要通过结构健康监测 (SHM) 持续监测某些结构的健康状况，同时降低检查和其他评估的成本。
无损检测用超声波传感器
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