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先进光源的校准和标准光束线 6.3.2
该弯曲磁体光束线自 1995 年 2 月开始运行，用于表征光学元件（镜子、光栅、多层、探测器等）能量范围为 50-1000 eV。虽然它主要用于 EUV 投影光刻的多层反射光学元件的精密反射测量，但它具有广泛的测量能力。光学元件由单色仪、反射计和重新聚焦镜组成，以在样品上提供一个小点。单色仪是一种非常紧凑、无入口狭缝、变线距平面光栅设计，其中机械刻划光栅在高放大倍数工作的球面镜的会聚光中运行。镜子的像差通过线间距变化进行校正，因此光谱分辨力 λ / ∆λ 受 ALS 光源尺寸限制，约为 7000。波长通过简单旋转具有固定出口狭缝的光栅进行扫描。反射计能够将样品定位在 10 µ m 以内，并将其角位置设置为 0.002 °。基于 LABVIEW™ 的软件为用户提供了方便的界面。反射计通过差动泵与光束线分开，可在半小时内抽空。辅助实验站可以安装在反射计后面。结果证明了光束线的性能和操作便利性。© 1996 美国物理学会。
NPL 报告 CB1}1 3
使用 Chromex 500 SM、单通单色仪、连续光源和发射线源校准干涉滤光片。校准程序如下：将 LP2 聚焦到单色仪的出口狭缝上，出口狭缝通常设置为 150 mm 的宽度。使用辅助 Ie 将连续光源（通常是钨肋灯）聚焦到入口狭缝（宽度为 150 mm）上。通过遮蔽单色仪和 LP2 之间的光路来排除外部光。此外，在测量期间关闭室内灯。然后在计算机控制下以 -0.3 nm 的步长扫描单色仪，通过滤光片的透射峰，并在每个波长下测量 LP2 输出。定期停止扫描以引入 Ie 光源，从而为单色仪提供校准。扫描完成后，进行第二次扫描（沿同一方向），但不放置干涉滤光片（滤光片安装在具有多个空隙的轮子上）。使用线源测量对单色仪波长进行校正。第一次扫描与第二次扫描的比率给出了干涉滤光片的透射曲线，消除了检测器响应、单色仪吞吐量随波长的变化、LP2 透镜透射和辐射源的发射率效应。除了这些测量外，还以较长和较短的步进方式进行更宽的扫描
减少...的计算和实验研究
主降落伞适用于投放声纳浮标。导向面 4 降落伞稳定性好，但形状和几何形状复杂，阻力效率差。十字形 5-6 或十字型 7 降落伞需要更多的悬挂线来保持形状和尺寸，带来了包装复杂性和操作期间旋转的可能性。此外，它还增加了成本和线缠绕的可能性。Warren 8 等人设计了一种由编织聚羟基烷酸酯 (PHA) 织物材料制成的方形降落伞，用于 67 m/s 终端速度和 335 m 高度的下降。但对于本研究要求的高空和低终端速度（7500 m，30 m/s），漂移和稳定性将是主要问题。此前，brian 9 等人和Mazyar 10 等人进行了一项研究，以观察伞衣上的通风孔对通风圆形降落伞性能的影响。他们发现，当雷诺数超过某些值时，降落伞会出现振荡，并且还观察到每种情况都有稳定和不稳定区域。尽管有许多关于测量和预测空气动力学参数（例如阻力系数）11 的研究，但很少有研究关注伞盖周围的尾流发展。但没有文献提到狭缝对方形降落伞的影响。为了克服所有这些问题，考虑了一种新型方形降落伞设计，伞盖上有狭缝切口，用于投放声纳浮标。它很简单，
通过... 实现的亚波长物体的光学计量
摘要。几十年来，显微镜和各种形式的干涉仪一直用于通常大于光波长λ的物体的光学计量。然而，由于衍射极限，亚波长物体的计量被认为是不可能的。我们报告说，通过分析物体散射的相干光的衍射图案，使用深度学习分析，可以测量亚波长物体的物理尺寸，精度超过λ/800。使用633nm激光，我们表明可以以0.77nm的精度测量不透明屏幕中亚波长狭缝的宽度，这对电子束和离子束光刻的精度提出了挑战。该技术适用于集成计量和加工工具的智能制造应用中纳米尺寸的高速非接触式测量。
定理球形kirigami tessellations
我们介绍了一个定理，该定理限制在球形表面上的kirigami tessellations时，带有图案性缝隙形成了自由形式的四边形网格。我们表明，球形kirigami镶嵌具有一个或两个兼容状态，即，最多有两个沿部署路径的隔离菌株配置。该定理进一步揭示了从球形到平面kirigami tessellations的刚性到扁平的过渡，并且仅当狭缝形成平行四边形空隙以及消失的高斯曲率时，这也通过能量分析和模拟来证实。在应用方面，我们显示了基于定理的Bistable球形圆顶结构的设计。我们的研究为基于欧几里得和非欧几里得几何形状的可变形结构的合理设计提供了新的见解。
光纤传感 - AMA 科学
FiSens 是一家年轻的公司，由弗劳恩霍夫海因里希-赫兹研究所的一个团队于 2018 年创立。十多年来，该团队一直专注于开发逐点 (PbP) 飞秒激光工艺，用于在光纤内刻录 FBG 和其他光栅结构。利用这种专有工艺，FiSens 还在光纤芯内精确周期性地形成椭球纳米结构。通过这种专利装置 [8]，FiSens 可以将普通光谱仪通常需要的所有光学成像组件（狭缝、透镜或镜子、衍射光栅、透镜）直接编码到光纤芯中（图 5）。由此产生的光谱仪只需要第二个组件：一个探测器（例如 CMOS），放置在光纤旁边的侧焦平面上，以捕获所有高强度的耦合和衍射光。
光纤传感 - AMA 科学
FiSens 是一家年轻的公司，由弗劳恩霍夫海因里希-赫兹研究所的一个团队于 2018 年创立。十多年来，该团队一直专注于开发逐点 (PbP) 飞秒激光工艺，用于在光纤内刻印 FBG 和其他光栅结构。利用这种专有工艺，FiSens 还在光纤芯内创建了精确周期性的椭圆体纳米结构。通过这种专利设备 [8]，FiSens 可以将普通光谱仪通常需要的所有光学成像组件（狭缝、透镜或镜子、衍射光栅、透镜）直接编码到光纤芯中（图 5）。由此产生的光谱仪只需要第二个组件：一个探测器（例如 CMOS），放置在光纤旁边的侧焦平面上，以捕获所有高强度的耦合和衍射光。
钢框架抗震加固体系的开发...
地震在世界各地肆虐，对建筑物造成了大量破坏，但仍有许多建筑物不符合现行抗震规范要求，因此需要进行抗震加固。在许多情况下，地震引起的破坏主要集中在低层钢筋混凝土 (RC) 结构上，这些结构的基本自振周期接近地震的主频。人们提出了不同的方法来减轻结构响应并耗散地震引起的能量 (Kim 2019)。增加钢支撑等额外刚度是传统且广泛使用的抗震加固技术 (Park et al . 2012, Maheri and Yazdani 2016, Mohammadi et al . 2020))。此外，采用狭缝阻尼器等金属耗能装置也被认为是结构抗震设计和加固的另一种有效手段（Zhang et al. 2015；Lee and Kim 2017；Javidan and Kim 2020；Dereje and Kim 2022）。
使用阵列测量不同温度下硅膜中的声子平均自由程谱
了解声子平均自由程 (MFP) 是理解材料和纳米结构热性质的关键。尽管已有几个实验测量了块体硅中的声子 MFP，但是尚未通过实验直接测量薄膜中的 MFP 光谱。在这项工作中，我们通过实验探测了悬浮硅膜中的声子 MFP 光谱。首先，我们测量不同温度下带有狭缝阵列的膜的热导率。接下来，我们开发了一种完全分析程序来提取累积热导率与 MFP 的关系。由于膜边界的散射，在表面粗糙度为 0.2 nm 的 145 nm 厚的膜中测得的声子 MFP 比块体中的短。在室温下，声子 MFP 不超过 400 nm。然而，在 4 K 时，MFP 变得更长，并且一些声子可以弹道传播长达一微米。这些结果揭示了长期存在的一个问题：在基于硅膜的纳米结构中，不同温度下弹道声子传输范围。