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cc/cs校正的成像允许使用最弹性和非弹性散射电子进行图像形成，而不会因单色而导致的光束强度损失。与成像能滤波器结合使用，可以使用等离子体 - 损坏或核心减脂电子形成原子分辨率EFTEM图像。对于原子分辨率滤波的TEM不仅需要对物镜的色差进行校正，而且成像能量滤波器的性能也必须满足主要是色变形和非异质性的条件。我们显示了用于大型能窗的原子分辨率的石墨烯的能量过滤透射电子显微镜（EFTEM）成像。以前的作品表现出与电离边缘信号（例如硅或钛的L 2,3边缘）的晶格对比[5,6]。然而，发现直接解释化学信息受到较厚样品的动态散射的弹性对比的贡献所阻碍。我们证明，即使在一个光原子薄样品的电离 - 边缘信号中也保留了弹性对比度 - 石墨烯 - 得出结论，任何原子分辨率EFTEM图像都无法用纯化学对比度来解释[7]。
理解模仿 - 对抗性 - 加速器 - ...
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