在大米(Oryza sativa)谷物发育期间出现的热应激会降低谷物质量,这通常表现为增加的谷物粉笔。尽管对热应激对谷物产量的影响进行了充分研究,但由于量化晶粒质量的探索程度不如谷物产量,因此在热应激下稻米质量的遗传基础较少。为了解决这个问题,我们使用了基于图像的比色测定法(红色,R;绿色,g)进行全基因组关联分析,以鉴定暴露于热应激的水稻晶粒中表型变异的基因基因座。我们发现从成熟谷物图像得出的R与G像素比(RG)有效地区分了来自对照(28/24°C)的半透明晶粒和热应激(36/32°C)植物。我们的分析产生了一种新型的基因,即米粉晶粒5(OSCG5),该基因调节热应激下的晶粒粉笔的自然变化。OSCG5编码一种晶粒特异性,表达的蛋白质未知功能。OSCG5转录本丰度的加入表现出较高的粉笔性,这与应力下的RG值较高有关。这些发现在热应激下相对于野生型(WT)的OSCG5敲除(KO)突变体的粉笔增加了。过表达OSCG5的植物的晶粒不如KOS,但在热应激下与WT相当。与WT和OE相比,KO突变体相对于对照组具有更大的热敏感性。共同表明,OSCG5的自然变化可能在热应激下有助于水稻质量。