机构名称：
¥ 1.0
•RAD测试样品（在TID测试期间运行）•被动样本作为冷备用（未安装）•在TID测试之前，对两个样品进行了100％NAND ECC筛查。•Micron 64L 3D TLC（SLC模式）•偏置和操作的Micron and One合作效果很好，并表现良好，直到测试结束 - 40Krad（SI）（SI）与LEO的长达10年的任务相对应。
SSD挑战（LEO）应用中的SSD挑战
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