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20 世纪 70 年代初，美国国家标准局 (NBS) 电力部门的 NAS/NRC 评估小组建议电气仪器部门开始解决与精密电气/电子仪器和测试设备相关的计量问题，其中动态性能考虑变得至关重要。 1974 年 9 月，NBS 盖瑟斯堡工厂举办了一场研讨会，旨在确定与现代电子仪器相关的关键计量需求。研讨会的讨论主题、会议记录、反馈报告和结论均已详细记录在一份 NBS 技术说明 [1] 中。研讨会讨论总结中贯穿的一个总体主题是，NBS 需要为电气/
基于数字技术的波形计量标准
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