机构名称：
¥ 1.0
在这项工作中，使用拉曼散射方法研究了掺杂卢替木的硅样品。进行了样品中晶体和无定形相分量的注册和鉴定。与原始样品相比，掺有lutetium的硅光样品的拉曼散射的光谱存在一些违规。发现，掺杂样品的拉曼散射强度比硅的散射高2-3倍。对与硅底物的单音线的强度相关的强度进行了比较。在该范围内出现的930 cm -1 - 1030 cm –1范围内拉曼光谱的这种影响与硅在硅上传播的数据降低相似。对于获得的图像（N -Si 和p -Si ），组合散射的原子范围内的频带在623 cm -1至1400 cm -1的范围内具有混合的宽宽和椭圆形背景。此背景可以改变观测带的形状。关键字：硅；镏;拉曼光谱；扩散;掺杂;温度PAC：78.30.am
结构确定和缺陷分析
主要关键词
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