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在量子电路内层进行的测量（即电路中部测量）是一种有用的量子计算原语，最显著的特点是用于量子误差校正。电路中部测量既有经典输出，也有量子输出，因此它们可能会受到终止量子电路的测量所不存在的误差模式的影响。在这里，我们展示了如何使用一种我们称之为量子仪器线性门集断层扫描 (QILGST) 的技术来表征由量子仪器建模的电路中部测量。然后，我们应用这种技术来表征多量子位系统内超导 transmon 量子位的色散测量。通过改变测量脉冲和后续门之间的延迟时间，我们探索了残余腔光子群对测量误差的影响。QILGST 可以解析不同的误差模式并量化测量的总误差；在我们的实验中，对于超过 1000 纳秒的延迟时间，我们测得的总误差率（即半钻石距离）为！！ = 8.1 ± 1.4%，读出保真度为 97.0 ± 0.3%，测量 0 和 1 时输出量子态保真度分别为 96.7 ± 0.6% 和 93.7 ± 0.7%。
LC18362N 2-KMR
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