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在这项工作中,我们提出了一种通过分析从连续光测量获得的平均干扰条纹来表征纳米/微膜共振器的方法。随着膜的振动,干扰条纹显示出模糊和对比度的降低,我们从中建立了振动幅度与模糊区域之间的直接关系。此方法提供了一种快速,直接的方法来表征膜振动并确定分散关系。此外,它可以同时提取多个振动模式,提供可用于重建动态振动轮廓的模式数字和相位差异。其效率和广泛的频率范围使其特别适合高频应用和快速数据收集。
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