图S4。 扫描跨INSE通道的NERNST效果的光电流图:(a)设备示意图显示了跨INSE通道的GR/5L-INSE异质结构和电气检测的照明。 在此示意图之后,任何测得的电流都被迫流过半导体。 (b)与扫描光电流图同时测量的感兴趣区域的激光反射图。 这种测量使我们能够将激光的位置与观察到的信号相关联。 被选中的位置分别标记为石墨烯和INSE/石墨烯异质结构的位置1和2分别为位置(c)Nernst效应信号记录了不同的磁场和50µW的激光照明和50µW的激光照明和V_G = 0 V的位置1和2,位于1和2的位置,在1和2中亮着,在1和2的位置上,在Chemaine ElectereDere和Hersossctuction上闪闪发光。 裸露的石墨烯信号以蓝色显示,通过一个数量级放大,以更好地突出两条曲线之间的斜率差异。 进行测量是没有任何应用偏差的,因为它会掩盖Nern的效果,从而诱导图片中的其他光电流机制。 (d)扫描光电流图显示了在完整设备上的完整设备的测得的光电流,以-1T的施加了平面外电场。 (e)和(f)分别为0T和1T显示的类似扫描光电流图。图S4。扫描跨INSE通道的NERNST效果的光电流图:(a)设备示意图显示了跨INSE通道的GR/5L-INSE异质结构和电气检测的照明。在此示意图之后,任何测得的电流都被迫流过半导体。(b)与扫描光电流图同时测量的感兴趣区域的激光反射图。这种测量使我们能够将激光的位置与观察到的信号相关联。被选中的位置分别标记为石墨烯和INSE/石墨烯异质结构的位置1和2分别为位置(c)Nernst效应信号记录了不同的磁场和50µW的激光照明和50µW的激光照明和V_G = 0 V的位置1和2,位于1和2的位置,在1和2中亮着,在1和2的位置上,在Chemaine ElectereDere和Hersossctuction上闪闪发光。裸露的石墨烯信号以蓝色显示,通过一个数量级放大,以更好地突出两条曲线之间的斜率差异。进行测量是没有任何应用偏差的,因为它会掩盖Nern的效果,从而诱导图片中的其他光电流机制。(d)扫描光电流图显示了在完整设备上的完整设备的测得的光电流,以-1T的施加了平面外电场。(e)和(f)分别为0T和1T显示的类似扫描光电流图。
主要关键词