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在毫米级氮化硅膜上加载“重”质量是一种很有前途的方法，可用于研究源质量为 1 毫克级、距离较近的重力。在本项目中，您将研究接近普朗克质量 (~22 𝜇𝑔) 的较小源质量，首先通过 Comsol 模拟来预测声子辐射造成的能量损失。随后，您将通过微操作将小质量放置在膜上。还使用光学振动计在室温下研究实际设备的振动特性。如果时间允许，还会进行低温测量。
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