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两片石墨烯以扭曲的方式堆叠在一起，形成一个系统，该系统最近引起了人们的极大兴趣，因为它具有令人着迷的电子特性，这些特性通常出现在由此产生的莫尔超晶格的尺度上，而莫尔超晶格通常比石墨烯晶格常数大 10 到 100 倍。特别是对于小的扭曲角度，莫尔超晶格常数在 10-20 纳米范围内，这使得扫描探针显微镜 (SPM) 成为研究扭曲双层系统的理想工具。通过本应用说明，我们展示了具有纳米级横向分辨率的 attoAFM I 低温显微镜如何配备先进的 AFM 模式，如导电尖端原子力显微镜 (ct-AFM) 和压电响应力显微镜 (PFM)，可用于探索扭曲双层的电气和机电特性。
扭曲双层石墨烯中的莫尔超晶格
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