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半导体过程控制仪器提供各种测量参数的过程,从而控制了半导体生产的过程。这些包括污染物检查,薄膜评估,膜厚度和密度的测量,组成和结晶度的评估以及半导体晶圆的三维形状的测量。与半导体检查仪器(检测单个设备中的缺陷)不同,Rigaku的产品衡量了设备生产过程的质量,并有助于过程改进,提高设备生产产量并提供高附加值。结果,预测这些半导体计量仪器的需求增长很高(图12)。Rigaku的半导体X射线计量仪器在主要半导体制造商的在线质量控制中起着至关重要的作用,以及通过半导体生产设备制造商进行的研发和质量控制。

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