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摘要 — 概率总电离剂量 (TID) 故障评估已扩展至包括幸存者数据，从而能够在没有故障数据的情况下将故障概率限制在所需的置信水平。该扩展提供了一种分析经过 TID 测试的微电子器件的方法，而无需达到故障模式，这是使用商用现货 (COTS) 技术的任务经常遇到的情况。使用 I 型删失似然公式和预期设备性能的实际上限，故障概率空间由可变环境背景下的置信轮廓线限制。该框架适用于针对零件故障或所考虑环境假设的任何类型的分布。此外，该框架可以预先用于规划未来的设备 TID 测试，在满足生存要求的同时最大限度地降低成本。当零件来自同一批次但从遗产中获得的约束量有限时，遗产数据也可用作幸存者，以进一步降低测试成本。总之，该框架能够以硬度保证方法对经过最大剂量测试的耐辐射设备以及飞行遗产进行正式的、数学上严格的分析。
一种基于信心的方法，将幸存者纳入……
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