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Singapore, 20 October 2020 NTU spin-off Zero Error Systems launches new radiation-protection chips for satellites and autonomous vehicles The Singapore tech firm also raised S$2.5 million seed funding A “smart chip” capable of protecting satellites from radiation damage could enable fut ure satellites to carry more sophisticated equipment and yet be less costly to build, th anks to an innovation developed by Nanyang Technological University,新加坡（NTU新加坡）研究人员。NTU开发的智能芯片由由电气和电子工程学院的Joseph Chang教授领导的团队可以检测到传入的重型辐射，并有可能对电子产品造成严重损害。 当检测到辐射的效果（称为单个事件闩锁）时，智能芯片会安全地关闭卫星中的其他电子设备，并在危险通过后将其拒之门外。 芯片本身得到了硬化和保护，以防止重型离子辐射，并可以在整个活动期间保持“清醒”。 被称为闩锁检测和保护（LDAP）芯片，现在由NTU的创新和企业公司Ntuivitive孵育的零越系统（ZES）商业化。 LDAP的技术最近获得了两项专利，并已在一个回旋子（一种产生辐射颗粒的粒子加速器）的重离子测试中进行了验证。 该芯片已在日本京胡岛理工学院，日本，巴拉圭和菲律宾建造的三个Pico-satellites中安装，作为辐射保护电路的一部分，预计将于2021年首次推出太空。可以检测到传入的重型辐射，并有可能对电子产品造成严重损害。当检测到辐射的效果（称为单个事件闩锁）时，智能芯片会安全地关闭卫星中的其他电子设备，并在危险通过后将其拒之门外。芯片本身得到了硬化和保护，以防止重型离子辐射，并可以在整个活动期间保持“清醒”。被称为闩锁检测和保护（LDAP）芯片，现在由NTU的创新和企业公司Ntuivitive孵育的零越系统（ZES）商业化。LDAP的技术最近获得了两项专利，并已在一个回旋子（一种产生辐射颗粒的粒子加速器）的重离子测试中进行了验证。该芯片已在日本京胡岛理工学院，日本，巴拉圭和菲律宾建造的三个Pico-satellites中安装，作为辐射保护电路的一部分，预计将于2021年首次推出太空。教授Chang解释说，他们保护卫星免受辐射损伤的新方法与常规方法不同，这种方法使用卫星的每个组件使用辐射硬化的空间级电子设备。这是昂贵的，使卫星更重，并将选择降低到老年一代的“尝试和测试”组件。“通过使用我们的LDAP芯片，卫星制造商现在可以使用最新的
NTU衍生错误系统启动新辐射 -
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